Nawigacja

Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz

Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).

Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).

Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.

Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.

Legenda:

  • M – materiał odniesienia
  • E – ekspertyza
  • W – wzorcowanie
  • MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
  • WE – wzorcowanie, ekspertyza

Ilość rekordów w bazie

1330

Wybrane filtry

Dziedzina Przyrząd pomiarowy Wzorcowanie - wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Cena (netto)
Długość

Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
płaskość
W
przekątna od 401 mm do 500 mm
max (0 x 500) µm
wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm
-
429 PLN
Długość

Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
płaskość
W
przekątna od 701 mm do 800 mm
max (0 x 500) µm
wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm
-
585 PLN
Długość

Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
płaskość
W
przekątna do 300 mm
max (0 x 500) µm
wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm
-
325 PLN
Długość

Walec zewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości

Dodaj do schowka
okrągłość
W
(0 ÷ 400) µm
-
średnica do 150 mm; wysokość do 300 mm
-
520 PLN
Długość

Walec wewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości

Dodaj do schowka
okrągłość
W
(0 ÷ 400) µm
-
średnica (5 ÷ 150) mm
-
520 PLN
Długość

Sfera (półkula) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości

Dodaj do schowka
okrągłość
W
(0 ÷ 200) µm
-
średnica do 200 mm
-
520 PLN
Długość

Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometru

Dodaj do schowka
okrągłość
W
do 300 µm
-
-
-
585 PLN
Długość

Liniał powierzchniowy - za pomocą autokolimatora

Dodaj do schowka
płaskość lub prostoliniowość
W
do 40 µm
Cena za liniał powierzchniowy o długości do 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,2 × stawka za 1 rbg.
długość liniału L do 1000 mm
Poza GUM wzorcuje się liniały o długości większych niż 1500 mm.
403 PLN
Długość

Wzorzec prostoliniowości walcowy

Dodaj do schowka
prostoliniowość
W
(0 x 500) µm
Cena za kątownik o wysokości do 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 × stawka za 1 rbg.
-
-
299 PLN
Długość

Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometru

Dodaj do schowka
stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch powierzchni)
W
od 0,5 do 1,5 µm
-
-
-
325 PLN
Długość

Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą mikrointerferometru

Dodaj do schowka
głębokość lub szerokość (nierówności)
W
wysokość nierówności h do 1 µm, szerokość nierówności S od 5 µm do 20 µm
-
-
-
390 PLN
Długość

Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru

Dodaj do schowka
parametr długości fali
W
RSm do 500 µm
-
-
-
260 PLN
Długość

Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru

Dodaj do schowka
parametry amplitudy
W
Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287)
Cena za 2 parametry Ra, Rz lub Ry; za każdy kolejny parametr 0,5 x stawka za 1 rbg
-
-
650 PLN
Długość

Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru

Dodaj do schowka
parametr długości fali
W
RSm do 80 µm
-
-
-
260 PLN
Długość

Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru

Dodaj do schowka
parametry amplitudy
W
Ra do 0,1 µm
-
-
-
455 PLN
Długość

Wzorzec chropowatości (np. ISO 5436-1 typ D)

Dodaj do schowka
parametry chropowatości ISO
W
Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287)
Cena za 2 parametry Ra, Rz lub Ry; za każdy kolejny parametr 0,5 x stawka za 1 rbg
-
-
650 PLN
Długość

Płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
współrzędne środków otworów
W
max (500 x 500) mm
-
-
-
1690 PLN
Długość

Płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
współrzędne środków kul
W
max (500 x 500) mm
-
-
-
1690 PLN
Długość

Pręt z kulami - za pomocą maszyny WMP

Dodaj do schowka
odległości kul
W
do 700 mm
Cena za odcinek pręta z 2 kulami; za każdą kolejną kulę 1 × stawka za 1 rbg
-
-
455 PLN
Długość

Współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - za pomocą płytek wzorcowych

Dodaj do schowka
błąd wymiaru
W
do 1000 mm
Do podanej ceny należy doliczyć koszty delegacji.
-
Wzorcowanie w miejscu zainstalowania maszyny
1950 PLN
Długość

Współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - za pomocą wzorca płytowego z kulami

Dodaj do schowka
błąd wymiaru
W
do 1000 mm
Do podanej ceny należy doliczyć koszty delegacji.
-
Wzorcowanie w miejscu zainstalowania maszyny
1950 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd wskazywanego kształtu (układu współrzędnych)
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji
325 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd wskazywanych parametrów chropowatości
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji
520 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd wskazywanego kształtu (prostoliniowości)
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji.
325 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd wskazywanego wymiaru (składowa pionowa)
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji
390 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd przenoszenia
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji
325 PLN
Długość

Profilometr stykowy

Dodaj do schowka
błąd wskazywanego wymiaru (składowa pozioma)
W
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997)
-
-
poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji
325 PLN
Długość

Wgłębnik Vickersa

Dodaj do schowka
wymiar - kąt
W
(135 ÷ 150)°
-
-
-
78 PLN
Długość

Wgłębnik Vickersa

Dodaj do schowka
niewspółosiowość
W
(0 ÷ 0,1) mm
-
-
-
19.50 PLN
Długość

Wgłębnik Vickersa

Dodaj do schowka
wymiar - średnica trzpienia
W
(6,0 ÷ 6,5) mm
-
-
-
19.50 PLN
Długość

Wgłębnik Vickersa

Dodaj do schowka
wysokość części roboczej
W
(0 ÷ 0,40) mm
-
-
-
14.30 PLN
Długość

Wgłębnik Knoopa

Dodaj do schowka
wymiar - kąty
W
(130 ÷ 180)°
-
-
-
143 PLN
Długość

Wgłębnik Knoopa

Dodaj do schowka
wymiar - średnica trzpienia
W
(6,0 ÷ 6,5) mm
-
-
-
19.50 PLN
Długość

Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą goniometru (wzorcowanie)

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,2 ÷ 2,2)
-
-
-
390 PLN
Długość

Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,4 ÷ 1,7)
-
-
-
390 PLN
Długość

Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,3 ÷ 1,7)
Podana cena obejmuje wykonanie wzorcowania w jednej długości fali i w trzech temperaturach. Za każdą dodatkową długość fali (też trzy temperatury) należy doliczyć 2 rbg pomnożone przez stawkę godzinową.
-
-
455 PLN
Długość

Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia)

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
M
n = (1,3 ÷ 1,7)
1 opakowanie, 10 ml, przy jednej temp. innej niż: 20 °C, 25 °C, 30 °C
-
-
390 PLN
Długość

Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia)

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
M
n = (1,3 ÷ 1,7)
1 opakowanie,10 ml, w temp. 20 °C, 25 °C, 30 °C
-
-
260 PLN
Długość

Refraktometr typu Pulfricha

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,3 ÷ 1,8)
-
-
-
390 PLN
Długość

Refraktometr fotoelektryczny

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,3 ÷ 1,7)
Wzorcowanie w 4 punktach pomiarowych, jednej skali; za każdy dodatkowy punkt pomiarowy dolicza się 0,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu w 4 punktach, dwóch skal, dolicza się 1 rbg pomnożoną przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji.
-
-
390 PLN
Długość

Refraktometr wizualny

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,3 ÷ 1,7)
Wzorcowanie w 4 punktach pomiarowych; za każdy dodatkowy punkt pomiarowy dolicza się 0,5 rbg pomnożone przez stawkę godzinową.
-
-
260 PLN
Długość

Refraktometr wizualny

Dodaj do schowka
współczynnik załamania światła
W
n = (1,33 ÷ 1,37)
Refraktometr wizualny zanurzeniowy
-
-
195 PLN
Długość

Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna)

Dodaj do schowka
skręcalność optyczna
W
(-10 ÷ 40)°
-
-
-
195 PLN
Długość

Wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia)

Dodaj do schowka
skręcalność optyczna
M
78,34° ÷ 78,36°
1 opakowanie, 100 g
-
-
260 PLN
Długość

Polarymetr fotoelektryczny

Dodaj do schowka
skręcalność optyczna
W
-90° ÷ 90°
Wzorcowanie dla jednej skali, przy wzorcowaniu dla dwóch skal dolicza się 1 rbg pomnożoną przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji.
-
-
390 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzędu

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(20 ÷ 88) HRA; (20 ÷ 100) HRB;(20 ÷ 70) HRC
-
-
-
130 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25;(32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5;
-
-
-
208 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
(32 ÷ 218)HB5/250;(96 ÷ 650)HB5/750;(16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000
-
-
-
156 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzędu

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(20 ÷ 88) HRA, (20 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC
-
-
-
117 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5;
-
-
-
208 PLN

Wybierz Strony

do góry