Przejdź do menu głównego
Przejdź do treści
Przejdź do wyszukiwarki
Mapa strony
Główny Urząd Miar
Czynności -
czcionka normalna
czcionka średnia
czcionka duża
Rozmiar czcionki
Wersja kontrastowa
Kontakt do Główny Urząd Miar
Biuletyn Informacji Publicznej
English
- change language
UE
Liczą się konkrety
Służba Cywilna
Wyszukiwarka
Zamknij wyszukiwarkę
Wyszukiwarka
Szukaj
Szukaj
Wybierz zakres wyszukiwania
artykuły
zdjęcia i inne pliki
video i audio
wyszukiwarka zaawansowana
Nawigacja
Menu
Strona główna
Dziedziny
Akustyka, Ultradźwięki i Drgania
Stanowiska pomiarowe
Czas i Częstotliwość
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Chemia
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Publikacje
Długość
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Elektryczność i Magnetyzm
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Projekty
Fotometria i Radiometria
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Masa
Laboratoria
Stanowiska pomiarowe
Publikacje
Projekty
Promieniowanie Jonizujące
Stanowiska pomiarowe
Publikacje
Przepływy
Stanowiska pomiarowe
Technologie cyfrowe
Laboratorium Informatyki Metrologicznej
Laboratorium Sztucznej Inteligencji
Projekty EU
Międzynarodowe
EMRP
EMPIR
Partnerstwo
Kampus
Aktualności
W mediach
Kariera
ŚWITEŹ
O platformie ŚWITEŹ
Publikacje
Archiwum
Pliki do pobrania
Animacja Świteź
e-CzasPL
Aktualności
Wywiady
TRANS-TACHO
Aktualności
Wiedza
Światowy System Miar
Publikacje
Biuletyn GUM
Przewodniki GUM
Słowniki metrologiczne
Publikacje dotyczące Międzynarodowego Układu Jednostek Miar SI
Niepewność pomiaru
Raporty GUM
Wydawnictwa informacyjne
Publikacje historyczne
Filmy edukacyjne
Materiały edukacyjne
Inne
Mapy godzin wschodu i zachodu słońca
Czas GUM
Praktyki i staże
Praktyka studencka
Praktyka absolwencka
Wolontariat
Staż dla osób bezrobotnych
Staż dla studentów i absolwentów
Ogłoszenia o wolnych miejscach na staż/praktykę/wolontariat
Film o GUM
100-lecie
Historia
Zdzisław Rauszer
Kolekcja historycznych przyrządów pomiarowych
Straty osobowe administracji miar poniesione w latach 1939-1945
Artykuły historyczne
Źródła do historii GUM
Kierownictwo GUM od 1919 roku
100-lecie
Doktoraty wdrożeniowe
Dla biznesu
Aktualności
Klaster metrologiczny
W mediach
Materiały wideo
Usługi
Wzorcowania
Wykaz usług metrologicznych
Katalog CRM
Certyfikacja
Wykazy
Tachografy
Kasy rejestrujące
Towary paczkowane
Porównania międzylaboratoryjne
Szkolenia
Zegar
ePUAP
Czym jest jednolity portal cyfrowy?
Wzajemne uznawanie
Platforma ŚWITEŹ
System zarządzania w GUM
Animacja Świteź
Współpraca
Międzynarodowa
BIPM
OIML
EURAMET
WELMEC
Europejskie Sieci Metrologiczne
Organizacje probiercze
Krajowa
Porozumienia
Ładowarka EV
Polska Metrologia
Oferta dla nauki
Zaawansowane techniki pomiarowe
Energia i ochrona środowiska
Zdrowie i bezpieczeństwo żywności
Technologie cyfrowe
Probiernictwo
O nas
Kierownictwo
Wzorce państwowe
Zadania GUM
Strategie i plany
Struktura organizacyjna
Zakłady
Departamenty i biura
Prawo
Nadzór i kontrole
Dla sądów
Dla mieszkańców
Dla kierowców
Sprawozdania z kontroli
Nadzór nad ustawami
Rozporządzenie w sprawie prawnej kontroli metrologicznej
Seminarium z problematyki towarów paczkowanych
Rada Metrologii
Administracja miar
OUM w Białymstoku
OUM w Bydgoszczy
OUM w Gdańsku
OUM w Katowicach
OUM w Krakowie
OUM w Łodzi
OUM w Poznaniu
OUM w Szczecinie
OUM w Warszawie
OUM we Wrocławiu
Administracja probiercza
OUP w Krakowie
OUP w Warszawie
Kontakt
Ankieta
System zarządzania w GUM
Media o nas
Dostępność
O nas - tekst łatwy do czytania (ETR)
Tłumacz języka migowego
Deklaracja dostępności
Wniosek o zapewnienie dostępności
Zasady wejścia z psem asystującym
Klauzule RODO
Patronaty
Wykaz patronatów Prezesa GUM
Identyfikacja wizualna
SI
Redefinicja SI
kilogram
metr
sekunda
amper
kelwin
mol
kandela
Przedrostki SI
Broszura SI
Streszczenie broszury SI
Tablice z układem SI
Informator GUM o redefinicji SI
Multimedia
Tablice i plakaty
Historia jednostek miar
Archiwum informacji o SI
Metr
Kandela
Amper
Kelwin
Sekunda
Mol
Kilogram
Kariera
Kampus
Aktualności
W mediach
Kariera
Galeria zdjęć
Pokaż wyszukiwarkę
English version
- change language
Strona główna
Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Czynności
Czynności
ID usługi
ID usługi
od
ID usługi
do
Przyrząd
Wybierz
(Laserowy, do pomiaru długości) interferometr (system) - z wzorcowym interferometrem laserowym
(Laserowy, do pomiaru długości) interferometr (refraktometr) - z wzorcowym barometrem, higrometrem i miernikiem temperatury
Amperomierze prądu przemiennego
Amperomierze prądu stałego
Analizator wydechu
Analizator wydechu, w trzech punktach
Analizatory gazów - 1 tor gazowy w 3 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 1 tor gazowy w 4 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 1 tor gazowy w 5 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 1 tor gazowy w 6 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 1 tor gazowy w 7 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 2 tory gazowe w 3 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 2 tory gazowe w 4 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 2 tory gazowe w 5 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 2 tory gazowe w 6 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 2 tory gazowe w 7 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 3 tory gazowe w 3 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 3 tory gazowe w 4 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 3 tory gazowe w 5 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 3 tory gazowe w 6 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 3 tory gazowe w 7 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 4 tory gazowe w 3 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 4 tory gazowe w 4 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 4 tory gazowe w 5 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 4 tory gazowe w 6 pkt pomiarowych
Analizatory gazów - 4 tory gazowe w 7 pkt pomiarowych
Areometr szklany
Audiometr
Audiometr tonowy
Autokolimator - za pomocą generatora małych kątów
Biurety
Certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)
Certyfikowany materiał odniesienia - wodny wzorzec etanolu
Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷25) °C
Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷50) °C
Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷60) °C albo (15÷70) °C albo (15÷80) °C
Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturze
Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec napięcia powierzchniowego, w jednej temperaturze
Certyfikowany pehametryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)
Cewka indukcyjna stała
Cewka indukcyjna zmienna, cewka indukcyjna dekadowa
Chronokomparatory cyfrowe, analogowe i cyfrowo-analogowe
Ciało stałe, w jednej temperaturze
Ciecz niutonowska, w jednej temperaturze
Ciecz, w jednej temperaturze
Ciśnieniomierz elektroniczny - ciśnienie bezwględne
Ciśnieniomierz elektroniczny - ciśnienie względne
Ciśnieniomierz hydrostatyczny
Ciśnieniomierz obciążnikowo-tłokowy
Cylindry pomiarowe
Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń
Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeń
Czujnik konduktometryczny
Czujnik termometru rezystancyjnego
Czujniki mocy
Dawkomierz terapeutyczny
Dawkomierz terapeutyczny i ochrony radiologicznej
do uzgodnienia z klientem
Dowolne źródło - Kalibrator fotometryczny
Dowolny odbiornik
Dysza Venturiego o przepływie krytycznym
Elektroda pehametryczna
Elektroda redoks
Fazomierze (przyrządy mierzące różnicę faz sygnałów napięciowych
Fotometr Candelametr jako luksomierz
Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierz
Fotometr precyzyjny typ 1105
Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)
Generatory sygnałów napięciowych o ustalonej różnicy faz
Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) dyscyplinowane
Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) dyscyplinowane i o biegu swobodnym
Generatory wysokostabilne (wtórne wzorce częstotliwości) o biegu swobodnym
Gęstościomierz oscylacyjny, w jednej temperaturze, w GUM
Gęstościomierz oscylacyjny, w jednej temperaturze, w miejscu ustawienia
Gęstościomierz przepływowy w miejscu ustawienia, w jednym punkcie
Gęstościomierze zbożowe
Goniometr - z pryzmą wielościenną
Głowica podziałowa - z pryzmą wielościenną
Higrometry punktu rosy
Higrometry, termohigrometry lub psychrometry elektroniczne
Higrometry, termohigrometry lub psychrometry elektroniczne
Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk (dozymetr hałasu) - dwukanałowy
Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk (dozymetr hałasu) - dwukanałowy, w zakresie rozszerzonym
Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk (dozymetr hałasu) - jednokanałowy
Indywidualny miernik ekspozycji na dźwięk (dozymetr hałasu) - jednokanałowy, w zakresie rozszerzonym
Inne luksomierze nie wymienione w cenniku
Inne luksomierze niewymienione w cenniku
Inne mierniki luminancji nie wymienione w cenniku
Inne mierniki luminancji niewymienione w cenniku
Inny laser stabilizowany - zdudnianie optyczne częstotliwości
Kalbratory rezystancji
Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościowy, dwa poziomy ciśnienia akustycznego
Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościowy, jeden poziom ciśnienia akustycznego
Kalibrator akustyczny wieloczęstotliwościowy - dwa poziomy ciśnienia akustycznego
Kalibrator akustyczny wieloczęstotliwościowy - jeden poziom ciśnienia akustycznego
Kalibrator akustyczny wieloczęstotliwościowy - trzy poziomy ciśnienia akustycznego
Kalibrator drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy o dwóch wartościach przyspieszenia drgań
Kalibrator drgań mechanicznych dwuczęstotliwościowy o dwóch wartościach przyspieszenia drgań ze wspornikiem do mocowania siedziskowych przetworników drgań
Kalibrator drgań mechanicznych jednoczęstotliwościowy o jednej wartości przyspieszenia drgań
Kalibrator drgań mechanicznych jednoczęstotliwościowy o jednej wartości przyspieszenia drgań ze wspornikiem do mocowania siedziskowych przetworników drgań
Kalibratory
Kalibratory miernika mocy
Kalibratory oscyloskopowe
Kalibratory rezystancji
Kalibratory wielofunkcyjne
Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMP
Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMP
Każdy luksomierz wymieniony w cenniku
Klucze dynamometryczne referenyjne (transferowe)
Kolba metalowa I rzędu
Kolba metalowa II rzędu
Kolby szklane
Kolorymetry firmy LMT
Kolorymetry innych producentów
Komora świetlna
Komórka punktu stałego (dla termometrii kontaktowej)
Komory klimatyczne, termostatyczne
Komparator do wzorcowania płytek wzorcowych - z kontrolnymi płytkami wzorcowymi
Komparator prądowy
Komparatory częstotliwości
Komparatory prądowe
Kompensatory
Kompet płytek wzorcowych - z komparatorem dwuczujnikowym
Komplet długich płytek wzorcowych (parametry do określenia klasy dokładności)
Komplet długich płytek wzorcowych - interferencyjnie, bezdotykowo
Komplet długich płytek wzorcowych - interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm)
Komplet długich płytek wzorcowych - porównawczo, dotykowo w pozycji poziomej
Komplet płytek wzorcowych (parametry do określenia klasy dokładności)
Komplet płytek wzorcowych - interferencyjnie (reszty ułamkowe, lampa Cd)
Komplet płytek wzorcowych - interferencyjnie (reszty ułamkowe, lasery)
Kondensator dekadowy
Kondensator przełączalny
Kondensator stały
Kondensator wzorcowy
Konduktometr (model nieznany)
Konduktometr - 1 zakres
Konduktometr - 2-4 zakresy
Konduktometr - 6 zakresów
Konduktometr wraz z czujnikiem
Konduktometryczny materiał odniesienia (wzorcowanie - metoda postawowa)
Konduktometryczny materiał odniesienia (wzorcowanie - metoda wtórna)
Kubek wypływowy
Kubek wypływowy jedna dysza
Lampa wolframowa
Laser stabilizowany mise en pratique - zdudnianie optyczne częstotliwości (syntezer częstotliwości optycznych)
Licznik energii
Liczniki grup impulsów
Liniał krawędziowy - za pomocą profilometru
Liniał krawędziowy - za pomocą stanowiska do pomiaru prostoliniowości
Liniał powierzchniowy - za pomocą autokolimatora
Luksomierz TES -1330
Luksomierz Abatronic typ AB-1301
Luksomierz Abatronic typ AB-1301
Luksomierz Sinometer typ LX-1010B
Luksomierz TES -1330
Luksomierze LS-100
Luksomierze RF-100
Luksomierze L-100
Luksomierze L-12
Luksomierze L-20
Luksomierze L-20A
Luksomierze L-50
Luksomierze L-51
Luksomierze L-52
Luksomierze Minolta
Luksomierze ULX firmy INS
Maszyna pomiarowa 1-D do pomiaru długości - z interferometrem laserowym
Materiał fotoluminescencyjny
Materiał odniesienia KCl (wzorcowanie - metoda postawowa)
Megaomomierze
Miernik drgań maszyn - 1 kanał, wielkość mierzona: przyspieszenie
Miernik drgań mechanicznych działających na człowieka przenoszonych przez kończyny górne
Miernik drgań mechanicznych działających na człowieka w sposób ogólny
Miernik drgań mechanicznych działających na człowieka w sposób ogólny i przenoszonych przez kończyny górne
Miernik drgań mechanicznych działających na człowieka w sposób ogólny i przenoszonych przez kończyny górne
Miernik luminancji - fotometr Candelametr jako miernik luminancji
Miernik luminancji firmy Hagner
Miernik luminancji Minolta LS 100
Miernik luminancji Minolta LS 110
Miernik luminancji: LM-10
Miernik mocy
Miernik mocy, kalibrator mocy/energii
Miernik poziomu dźwięku SONOPAN typ AS-200 spełniający wymagania normy PN-EN 61672-1
Miernik poziomu dźwięku spełniający wymagania normy PN-EN 61672-1, czterokanałowy
Miernik poziomu dźwięku spełniający wymagania normy PN-EN 61672-1, dwukanałowy
Miernik poziomu dźwięku spełniający wymagania normy PN-EN 61672-1, jednokanałowy
Miernik poziomu dźwięku spełniający wymagania normy PN-EN 61672-1, trzykanałowy
Miernik poziomu dźwięku w zakresie częstotliwości infradźwiękowych
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi 1/3-oktawowymi w zakresie częstotliwości ultradźwiękowych
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi 1/3-oktawowymi, analogowymi
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi 1/3-oktawowymi, cyfrowymi
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi oktawowymi i 1/3-oktawowymi, analogowymi
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi oktawowymi i 1/3-oktawowymi, cyfrowymi
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi oktawowymi, analogowymi
Miernik poziomu dźwięku z filtrami pasmowymi oktawowymi, cyfrowymi
Miernik RLC
Miernik UVA
Miernik UVA + Miernik światła białego
Mierniki (sondy) natężenia pola elektrycznego
Mierniki (sondy) natężenia stałego pola magnetycznego (indukcji magnetycznej)
Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola elektrycznego
Mierniki (sondy) natężenia zmiennego pola magnetycznego (indukcji magnetycznej)
Mierniki luminancji: CLM-200
Mierniki luminancji: Fotometr firmy DELTA OHM jako miernik luminancji
Mierniki luminancji: L-100 + PL1.RF-100
Mierniki luminancji: L-51 + PL-68
Mierniki luminancji: RF-100 + PL1.RF-100
Mierniki mocy
Mierniki napięcia wielkiej częstotliwości
Mierniki światła białego
Mieszanina gazowa (C3H8)<0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (C3H8)0,00001÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (C3H8)0,0005÷0,002 mol/mol
Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,C2H4,C3H8,H2)?0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,C2H4,H2) 0,0005÷0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,H2) od 0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (CH4,C2H6,H2)?0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO) 0,000001÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO,CO2,O2)?0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO,CO2,O2,NO,NO2,SO2)?0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO,NO,NO2,SO2)<0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO2) 0,00038÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO2) 0,0005÷0,01 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO2) 0,01÷0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (CO2) 0,05÷0,2 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO) 0,0000001÷0,00001 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO) 0,00001÷0,00005 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO) 0,00005÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO) 0,0005÷0,001 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO) 0,0005÷0,005 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO2) 0,0000001÷0,00001 mol/mol
Mieszanina gazowa (NO2) 0,00001÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (O2) 0,005÷0,05 mol/mol
Mieszanina gazowa (O2) 0,05÷0,42 mol/mol
Mieszanina gazowa (SO2) 0,000001÷0,00005 mol/mol
Mieszanina gazowa (SO2) 0,00005÷0,0005 mol/mol
Mieszanina gazowa (SO2) 0,0005÷0,001 mol/mol
Mieszanina gazowa do kontroli analizatorów spalin samochodowych
Mieszanina gazowa zawierający gaz ziemny do C4
Mieszanina gazowa zawierający gaz ziemny do C6
Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub LS2
Mikrofon pomiarowy klasy LS2 lub WS2
Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3
Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3 Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3
Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3
Mikrowoltomierze
Miliamperomierze
Momentomierze, przetworniki momentu siły
Mostek do pomiaru błędów przekładników - prądowy i prądowo-napięciowy
Mostek do pomiaru błędów przekładników -prądowy i prądowo-napięciowy
Mostek pojemności
Multimetry
Multimetry / Amperomierze prądu przemiennego
Multimetry / Amperomierze prądu stałego
Multimetry / Omomierze
Multimetry / Woltomierze napięcia przemiennego
Multimetry / Woltomierze napięcia stałego
Nanoamperomierze
Nanowoltomierze
Napięciowe obciążenie przekładników
Obciążnik specjalny
Odbiornik szerokopasmowy
Odbiorniki pomiarowe: odpowiedź na impulsy wzorcowe CISPR
Odbiorniki pomiarowe: odpowiedź na impulsy wzorcowe CISPR
Omomierze
Optyczna poziomnica kątowa - za pomocą optycznej głowicy podziałowej
Optyczna poziomnica kątowa - za pomocą płytek wzorcowych
Optyczna poziomnica kątowa - za pomocą wzorcowej powierzchni poziomej
Pehametr - 1 zakres pH
Pehametr - I kanał (zakres pomiaru pH i napięcia)
Pehametr - II kanały (zakres pomiaru pH i napięcia)
Pehametr zespolony z elektrodą
Pehametryczny materiał odniesienia (wzorcowanie - ogniwo dwu-wodorowe)
Pehametryczny materiał odniesienia (wzorcowanie - ogniwo z elektrodą szklaną)
Pierwotny certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)
Pierwotny certyfikowany pehametryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)
Pierwotny materiał odniesienia KCl (wytworzenie + wzorcowanie)
Pierwotny materiał odniesienia KHP (wytworzenie + wzorcowanie)
Piknometr
Piknometr w jednej temperaturze
Pikoamperomierze
Pipety laboratoryjne jednomiarowe
Pipety laboratoryjne wielomiarowe
Pipety tłokowe jednokanałowe o zmiennej i stałej objętości
Pochyłomierz - za pomocą optycznej głowicy podziałowej
Pochyłomierz - za pomocą wzorcowej powierzchni poziomej
Pojemniki przeznaczone do pomiaru i sprawdzania objętości cieczy
Polarymetr fotoelektryczny
Poziomnica elektroniczna - za pomocą generatora małych kątów
Poziomnica elektroniczna - za pomocą optycznej głowicy podziałowej
Poziomnica koincydencyjna - za pomocą optycznej głowicy podziałowej
Poziomnica koincydencyjna - za pomocą płytek wzorcowych
Poziomnica koincydencyjna - za pomocą wzorcowej powierzchni poziomej
Półprzewodnikowe źródło napięcia
Połyskomierz - wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Połyskomierz - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Połyskomierz - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Prądowe obciążenie przekładników
Pręt z kulami - za pomocą maszyny WMP
Próbka - za pomocą twardościomierza Brinella
Próbka - za pomocą twardościomierza Knoopa
Próbka - za pomocą twardościomierza Rockwella
Próbka - za pomocą twardościomierza Vickersa
Profilometr stykowy
Pryzma wielościenna - porównawcza – za pomocą goniometru
Pryzma wielościenna - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu
Przekładnik kombinowany
Przekładnik napięciowy
Przekładnik prądowy
Przekładniki
Przekładniki kombinowane
Przepływomierz do gazu (elektroniczny przepływomierz błonkowy do gazu)
Przepływomierz do gazu (przepływomierz elektroniczny do gazu: PW-2001)
Przepływomierz do wody
Przetwornik drgań mechanicznych
Przetwornik termoelektryczny AC/DC
Przetwornik termoelektryczny AC/DC z bocznikiem
Przetworniki termoelektryczne AC/DC
Przymiar półsztywny - z interferometrem laserowym
Przymiar półsztywny do pomiaru średnicy i obwodu - z interferometrem laserowym
Przymiar sztywny - z interferometrem laserowym
Przymiar wstęgowy - z interferometrem laserowym
Przyrząd do pomiaru gęstości z zewnętrzną sondą pomiarową, w jednej temperaturze
Przyrząd EDM (dalmierz laserowy) - z interferometrem laserowym
Przyrząd pomiarowy (nazwa pełna)
Przyrządy do pomiaru napięcia, prądu i rezystancji
Psychrometry Assmanna
Płaska płytka interferencyjna - za pomocą interferometru laserowego
Płyta pomiarowa - za pomocą autokolimatora
Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMP
Płyta z kulami/otworami - za pomocą maszyny WMP
Płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą komparatora dwuczujnikowego
Płytka interferencyjna płaskorównoległa - za pomocą optimetru projekcyjnego
Płytka kątowa - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołu obrotowego
Płytka kątowa - za pomocą goniometru
Refraktometr fotoelektryczny
Refraktometr typu Pulfricha
Refraktometr wizualny
Rezystory regulowane
Rezystory stałe
Rotametr (wzorcowy) do gazu
Sekundomierze i czasomierze z akustyczną sygnalizację startu i stopu
Sekundomierze i czasomierze elektroniczne sterowane: elektryczne (w tym również: stanem styków bezpotencjałowych - zwarcie / rozwarcie)
Sekundomierze elektroniczne z akustyczną sygnalizację startu i stopu
Sekundomierze elektroniczne sterowane optycznie
Sekundomierze elektroniczne sterowane ręcznie
Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMP
Sfera (półkula) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości
Siłomierze, przetworniki siły
Skale czasu
Spektrofotometry i kolorymetry odbiciowe
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM
Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM
Sprzęgacz mechaniczny
Stanowisko pomiarowe do wzorcowania wzorców masy
Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa - z pryzmą wielościenną
Stół podziałowy - z pryzmą wielościenną
Symulator (zakres pH i napięcia)
Symulator (zakres pH)
Termistor
Termoareometr szklany
Termoelementy z metali szlachetnych (typ S, R)
Termoelementy z metali szlachetnych (typ B)
Termometr elektryczny (cyfrowy)
Termometr szklany cieczowy
Tlenomierze
Twardościomierz Brinella
Twardościomierz dynamiczny i inny
Twardościomierz Knoopa
Twardościomierz Rockwella
Twardościomierz Shore'a
Twardościomierz Shore'a
Twardościomierz Vickersa
Układ pomiarowy ze sprzęgaczem odniesienia lub sztucznym uchem
Układ sprzęgacza akustycznego do wzorcowania słuchawek stosowanych w audiometrii
Układ sprzęgacza mechanicznego do pomiaru słuchawek kostnych
Układ symulatora ucha do pomiaru słuchawek nausznych i wokółusznych
Urządzenia bierne
Urządzenie do pomiaru stosunku rezystancji
Waga hydrostatyczna do pomiaru gęstości ciał stałych
Waga hydrostatyczna do pomiaru gęstości cieczy
Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny 1-D
Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMP
Walec wewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości
Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny 1-D
Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMP
Walec zewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości
Wgłębnik Knoopa
Wgłębnik Vickersa
Wibrometr laserowy z wyjściem analogowym
Wielofunkcyjny wzorzec pośredniczący
Wielowrotniki
Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistych
Wiskozymetr Cannon-Fenske
Wiskozymetr Cannon-Fenske dla cieczy nieprzezroczystych
Wiskozymetr Höpplera
Wiskozymetr Pinkiewicza
Wiskozymetr rotacyjny
Wiskozymetr Stabingera
Wiskozymetr typu U-rurka
Wiskozymetr typu U-rurka z odwrotnym przepływem
Wiskozymetr Ubbelohde
Wodomierz (temp. wody od 0,1 °C do 30 °C)
Wodomierz (temp. wody od 0,1 °C do co najmniej 90 °C)
Wodomierz (temp. wody od 30 °C do co najmniej 90 °C)
Woltomierz i próbnik wysokiego napięcia
Woltomierze napięcia przemiennego
Woltomierze napięcia stałego
Współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - za pomocą płytek wzorcowych
Współrzędnościowa maszyna pomiarowa WMP - za pomocą wzorca płytowego z kulami
Wzbudnik drgań
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:8°
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45°
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0°
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:d
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0°
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8°
Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii d:0°
Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0°
Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego
Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania
Wzorce do atomowej spektrometrii absorpcyjnej (ASA)
Wzorce długości fali (wykonanie i wzorcowanie)
Wzorce długości fali (wzorcowanie)
Wzorce długości fali wytwarzane przez GUM (wzorcowanie)
Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego
Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego
Wzorce liczb falowych
Wzorce masy klasy E1 1kg
Wzorce masy klasy E1 2 kg, 5 kg,10 kg
Wzorce masy klasy E1 100 g, 200 g, 500 g - jedna sztuka
Wzorce masy klasy E1 komplet od 1 g do 100 g
Wzorce masy klasy E1 komplet od 1 mg do 500 mg
Wzorce masy i obciążniki klasy E1 poniżej 1kg
Wzorce masy i obciążniki klasy E1 powyżej 1 kg
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 - komplet do 500 mg
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 - komplet od 1 g do 200 g
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 - komplet od 1 mg do 200 g (do 27 sztuk)
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 - komplet od 1 mg do 200 g (do 37 sztuk)
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 do 5 kg - jedna sztuka
Wzorce masy i obciążniki klasy E2 od 10 kg do 50 kg - jedna sztuka
Wzorce masy i obciążniki klasy F2 od 100 kg do 1000 kg - jedna sztuka
Wzorce masy klasy E2/F1/F2 zakres od 1 g do 20 kg
Wzorce masy klasy dokładności F1,F2 zakres od 100 kg do 1000 kg
Wzorce masy klasy dokładności M1 zakres od 100 kg do 1000 kg
Wzorce masy klasy E1 20 kg, 50 kg
Wzorce masy klasy E1 do 50 g - jedna sztuka
Wzorce masy klasy E1 powyżej 1 kg
Wzorce stężenia masowego pierwiastków
Wzorcowe ogniwo Westona
Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długi
Wzorzec chropowatości (np. ISO 5436-1 typ D)
Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą mikrointerferometru
Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometru
Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru
Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru
Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą mikrointerferometru
Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą profilometru
Wzorzec kreskowy dokładny - z interferometrem laserowym
Wzorzec kreskowy mikroskopowy - z interferometrem laserowym
Wzorzec nastawczy do mikrometrów - interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm)
Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna)
Wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia)
Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometru
Wzorzec prostoliniowości walcowy
Wzorzec Q
Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia)
Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)
Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą goniometru (wzorcowanie)
Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)
Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP
Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP
Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella
Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem Knoopa
Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzędu
Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzędu
Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa
Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą profilometru
Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości
Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85
Zasilacze i wzmacniacze sygnałów
Zegary kwarcowe i mechaniczne
Zegary kwarcowe z wyprowadzonym sygnałem podstawy czasu
Zegary kwarcowe cyfrowe i analogowe
Zestaw pomiarowy - 1 wzmocnienie
Zestaw pomiarowy przetwornika drgań ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienie
Zestaw: Fotometr Candelametr jako luksomierz + jako miernik luminancji
Zestaw: luksomierz + miernik luminancji (przystawka luminancyjna PL-68)
Zestaw: luksomierz + miernik luminancji (przystawka luminancyjna PL1.RF-100)
Źródła grup impulsów
Źródła mocy
Źródło napięcia stałego
Źródło oparte na lampie wolframowej
Ława ze źródłami promieniowania ?
Laser stabilizowany mise en pratique - zdudnianie optyczne częstotliwości (laser He-Ne stabilizowany jodem)
Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub WS1
inne
Przetwornik udarów mechanicznych
Zestaw pomiarowy przetwornika udarów ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienie
Pozostałe czynności związane z wzorcowaniem
Wybierz
P1 - zlecenie
P2 - przyrząd
P3 - stanowisko
P4 - obliczenia
Liczba rbg przezna-czona na pozostałe czynności
Liczba rbg przezna-czona na pozostałe czynności
od
Liczba rbg przezna-czona na pozostałe czynności
do
Cena za poszczególną czynność w zł
Cena za poszczególną czynność w zł
od
Cena za poszczególną czynność w zł
do
Sortuj
Wybierz
Przyrząd
Pozostałe czynności związane z wzorcowaniem
Liczba rbg przezna-czona na pozostałe czynności
Cena za poszczególną czynność w zł
Uporządkuj
Wybierz
malejąco
rosnąco
Szukaj w archiwum
Filtruj
Usuń filtry
Szukaj
Liczba rekordów w bazie
2
1-przyrząd
1-zlecenie
do góry