Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(0 ÷ 300) mm Cena za wzorzec schodkowy do 300 mm - - |
650 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Higrometry, termohigrometry lub psychrometry elektroniczneDodaj do schowka |
wilgotność względna - rozszerzony pakiet standardowy w temp. (23 oraz 10 i 35) °C W |
Rozszerzony pakiet standardowy w temp. (23 oraz 10 i 35) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem Rozszerzony pakiet standardowy w temp. 23 °C - 5 punktów wilgotności względnej oraz w 10 °C i 35 °C po 2 punkty wilgotności względnej - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Miernik drgań maszyn - 1 kanał, wielkość mierzona: przyspieszenieDodaj do schowka |
odpowiedź przyrządu na sygnały drganiowe W |
5 Hz ÷ 5 kHz od 8 do 9 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-21 Koszt dotyczy miernika 1-kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Przetwornik udarów mechanicznychDodaj do schowka |
czułość w funkcji przyspieszenia W |
0,2 km/s² ÷ 100 km/s² Koszt dotyczy 1 przetwornika 1-osiowego o masie do 50 g. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne X, Y, Z (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i dwóch obserwatorów kolorymetrycznych) W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 780) nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 780) nm - - - |
650 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistychDodaj do schowka |
wilgotność ciał stałych W |
2 punkty dla próbek wilgotnych wymagających podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Materiał fotoluminescencyjnyDodaj do schowka |
luminancja materiału fotoluminescyjnego W |
0,3 mcd/m² ÷ 1 cd/m² - wg ISO 17398 jedna próbka - |
650 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Mostek do pomiaru błędów przekładników - prądowy i prądowo-napięciowyDodaj do schowka |
błąd prądowy i napięciowy oraz kątowy W |
znamionowy prąd (1 ÷ 10) A, znamionowe napięcie (33,3 ÷ 200) V Cena za pierwszy zakres prądu, za każdy następny 2 rbg x stawka za 1 rbg. - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościowy, jeden poziom ciśnienia akustycznegoDodaj do schowka |
- poziom ciśnienia akustycznego,- częstotliwość,- zniekształcenia całkowite + szum W |
70 dB ÷ 130 dB; 250 Hz lub 1 kHz - Niepewność zależy od rodzaju kalibratora wzorcowanego - |
650 PLN |
| Długość | Komplet długich płytek wzorcowych - interferencyjnie, bezdotykowoDodaj do schowka |
długość środkowa W |
(125 ÷ 500) mm Cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej - - |
650 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Komory klimatyczne, termostatyczneDodaj do schowka |
wilgotność względna, temperatura W |
1 punkt wzorcowania w zakresie (-20 ÷ +50) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy, wzorcowym termometrem oraz czujnikami termohigrometrycznymi - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-52Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Mikrofon pomiarowy klasy LS1 lub LS2Dodaj do schowka |
poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł W |
250 Hz lub 1 kHz - Niepewność zależy od klasy mikrofonu. - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-50Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Mikrofon pomiarowy klasy WS1, WS2 lub WS3Dodaj do schowka |
poziom skuteczności ciśnieniowej - moduł W |
250 Hz lub 1 kHz - Niepewność zależy od rodzaju mikrofonu. - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20ADodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze ULX firmy INSDodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx - - - |
650 PLN |
| Akustyka i drgania | Wzbudnik drgańDodaj do schowka |
względne drgania poprzeczne w funkcji częstotliwości W |
0,2 Hz ÷ 10 kHz od 4 do 6 pkt. pom. - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-51Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° Pomiar prostopadłości dwóch powierzchni; W przypadku pomiaru prostopadłości kolejnych dwóch powierzchnii 0,5 x 1 rbg max. wymiary kątownika od 400 do 500 mm - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze MinoltaDodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla dwóch iluminantów i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze RF-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Chemia | Symulator (zakres pH i napięcia)Dodaj do schowka |
pH; napięcie elektryczne W |
pH od -4,0 do 23,0; od -2300 mV do 2300 mV - - - |
663 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Urządzenia bierneDodaj do schowka |
tłumienie W |
(0 ÷ 60) dB 100 kHz ÷ 50 GHz Podana cena jest ceną średnią i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. tłumik stały (min. 20 max. 30 punktów pomiarowych w pasmie częstotliwości) - |
676 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i jednego iluminantu) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
676 PLN |
| Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - wysokość kątownika (601 ÷ 700) mm - |
676 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Waga hydrostatyczna do pomiaru gęstości cieczyDodaj do schowka |
gęstość cieczy W |
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3 - - - |
678 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierz TES -1330Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
682.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierz Abatronic typ AB-1301Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
682.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierz Sinometer typ LX-1010BDodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
682.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Fotometr firmy DELTA OHM jako luksomierzDodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
689 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Rezystory stałeDodaj do schowka |
rezystancja DC WE |
od 0,1 Ω do 1 Ω - - - |
700 PLN |
| Chemia | Pierwotny certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów MW |
0,1 S/m 500 mL - - |
700.06 PLN |
| Chemia | Pierwotny certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów MW |
1 S/m 500 mL - - |
700.06 PLN |
| Chemia | Pierwotny certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów MW |
10 S/m 500 mL - - |
700.06 PLN |
| Chemia | Pierwotny certyfikowany konduktometryczny materiał odniesienia (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów MW |
0,01 S/m 500 mL - - |
700.06 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
lepkość kinematyczna M |
(1 ÷ 90000) mm2/sw temperaturze(25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany 400 ml - - |
710 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
widmowy współczynnik odbicia rozproszonego W |
(380 ÷ 780) nm, co 10 nm; (1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm - - - |
715 PLN |