Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
---|---|---|---|---|
Chemia | Konduktometr (model nieznany)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów W |
od 0,00001 S/m do 20 S/m - - - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
widmowy współczynnik odbicia rozproszonego W |
(1400 ÷ 2400) nm, co 100 nm - - - |
520 PLN |
Długość | Walec wewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłościDodaj do schowka |
okrągłość W |
(0 ÷ 400) µm - średnica (5 ÷ 150) mm - |
520 PLN |
Długość | Walec zewnętrzny - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłościDodaj do schowka |
okrągłość W |
(0 ÷ 400) µm - średnica do 150 mm; wysokość do 300 mm - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 780) nm - - - |
520 PLN |
Długość | Sfera (półkula) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłościDodaj do schowka |
okrągłość W |
(0 ÷ 200) µm - średnica do 200 mm - |
520 PLN |
Długość | Autokolimator - za pomocą generatora małych kątówDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kąta W |
(0 ÷ 40)' Wzorcowanie w 1 osi - - |
520 PLN |
Akustyka i drgania | Miernik drgań maszyn - 1 kanał, wielkość mierzona: przyspieszenieDodaj do schowka |
odpowiedź przyrządu na sygnały drganiowe W |
5 Hz ÷ 10 kHz od 5 do 7 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-21 Koszt dotyczy miernika 1-kanałowego o 1 wzmocnieniu z 1 przetwornikiem piezoelektrycznym i 1 wielkości mierzonej. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
520 PLN |
Długość | Głowica podziałowa - z pryzmą wielościennąDodaj do schowka |
kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) W |
360°, co 15° Przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. - - |
520 PLN |
Długość | Pryzma wielościenna - porównawcza – za pomocą goniometruDodaj do schowka |
kąt między powierzchniami pomiarowymi W |
360°, co 30° - - - |
520 PLN |
Akustyka i drgania | Zestaw pomiarowy przetwornika drgań ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienieDodaj do schowka |
czułość w funkcji częstotliwości W |
5 Hz ÷ 10 kHz od 9 do 12 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-21 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1-osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
520 PLN |
Masa i wielkości pochodne | Kolba metalowa II rzęduDodaj do schowka |
pojemność W |
(1000 ÷ 5000) ml / wagowa - - - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:8°Dodaj do schowka |
widmowy współczynnik luminancji W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
520 PLN |
Długość | Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa - z pryzmą wielościennąDodaj do schowka |
kąt ustawienia W |
360°, co 15° Przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. - Poza siedzibą GUM wzorcowane są przetworniki wbudowane w stacjonarny układ pomiarowy. |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 45°:0°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(400 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 0°:45°Dodaj do schowka |
widmowy współczynnik luminancji W |
(380 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
520 PLN |
Akustyka i drgania | Wzbudnik drgańDodaj do schowka |
względne drgania poprzeczne w funkcji częstotliwości W |
0,2 Hz ÷ 10 kHz od 2 do 3 pkt. pom. - - - |
520 PLN |
Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - wysokość kątownika (301 ÷ 400) mm - |
520 PLN |
Akustyka i drgania | Kalibrator akustyczny jednoczęstotliwościowy, jeden poziom ciśnienia akustycznegoDodaj do schowka |
- poziom ciśnienia akustycznego,- częstotliwość,- zniekształcenia całkowite + szum W |
70 dB ÷ 130 dB; 250 Hz lub 1 kHz - Niepewność zależy od rodzaju zastosowanego mikrofonu wzorcowego i od rodzaju kalibratora wzorcowanego - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru d:0°Dodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 700) nm, co 10 nm - - - |
520 PLN |
Długość | Stół podziałowy - z pryzmą wielościennąDodaj do schowka |
kąt podziału (błąd wskazywanego kąta podziału) W |
360°, co 15° - - - |
520 PLN |
Długość | Profilometr stykowyDodaj do schowka |
błąd wskazywanych parametrów chropowatości W |
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) - - poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji |
520 PLN |
Temperatura i wilgotność | Higrometry punktu rosyDodaj do schowka |
temperatura punktu rosy W |
1 punkt w zakresie (-50 ÷ +50) °C na stanowisku wzorca odniesienia - - - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 780) nm - - - |
520 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
Masa i wielkości pochodne | Siłomierze, przetworniki siłyDodaj do schowka |
siła - rozciągająca i ściskająca W |
250 N Adiustacja - dodatkowo 2 rbg. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. do 10 punktów pomiarowych - |
533 PLN |
Długość | Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
przekątna od 601 mm do 700 mm max (0 x 500) µm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm - |
533 PLN |
Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - max. wymiary kątownika od 300 do 400 mm - |
546 PLN |
Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (201 ÷ 250) mm - |
546 PLN |
Chemia | Pierwotny materiał odniesienia KCl (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
Zawartość MW |
od 13,407 mol/kg do 13,414 mol/kg (od 99,95 % do 100 %) 25 g - - |
551.20 PLN |
Chemia | Pierwotny materiał odniesienia KHP (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
Zawartość MW |
od 4,872 mol/kg do 4,897 mol/kg (od 99,95 % do 100 %) 25 g - - |
551.20 PLN |
Masa i wielkości pochodne | Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistychDodaj do schowka |
wilgotność ciał stałych W |
2 punkty dla próbek o niższej wilgotności nie wymagającej podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych - - - |
553 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-52Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20ADodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze LS-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-50Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze RF-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-51Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
Długość | Płytka kątowa - za pomocą goniometruDodaj do schowka |
kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] W |
180° Komplet 36 sztuk, typu Kusznikowa dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach - |
562 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
572 PLN |
Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - wysokość kątownika (401 ÷ 500) mm - |
572 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |