Nawigacja

Zaawansowane techniki pomiarowe

Zaawansowane techniki pomiarowe

Autor : Praca zbiorowa
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz

Metrologia geometrii powierzchni dla precyzyjnej produkcji przemysłowej w skali mikro i nano

Metrologia małych powierzchni

Nanoelektronika

Nanobiotechnologia

Nanocząstki

Metrologia nietypowych obiektów złożonych

Skaning laserowy

Metrologia obrazowa

Metrologia dużych obiektów i odległości

Dokładne pomiary odległości rzędu km

Spójne pomiary w systemie map

Składowanie surowców energetycznych oraz odpadów

Budowa nowych wzorców odniesienia

Długość

Czas i częstotliwość

Akustyka, ultradźwięki i drgania

Ciśnienie

Gęstość

Objętość statyczna

Lepkość

Siła

Charakterystyka materiałów oraz przyrządów pomiarowych w warunkach laboratoryjnych oraz w trudnych warunkach środowiskowych

Metrologia wymiarowa

Wsparcie techniczne w procesie produkcyjnym poprzez dostarczanie nowych rozwiązań pomiarowych

Dokładne pomiary 3D w procesie produkcji i montażu

Nowe metody pomiarów w dziedzinie akustyki i drgań

Nowe metody wzorcowania/badania

Doskonalenie metod pomiarowych w dziedzinie fotometrii i radiometrii

Nowe metody wzorcowania mierników stosowanych w badaniach nieniszczących

Wirtualne przyrządy pomiarowe

Nowe stanowiska pomiarowe/modernizacja stanowisk pomiarowych

Doskonalenie metod pomiarowych w dziedzinie pomiaru prędkości pojazdów w kontroli ruchu drogowego

Nowe stanowiska pomiarowe/modernizacja stanowisk pomiarowych

do góry