Wykorzystanie matryc aparatów cyfrowych do szybkich pomiarów rozkładu powierzchniowego natężenia napromieniowania różnych przekrojów wiązki promieniowania optycznego
Proponowany zakres prac
1) Dobór i kalibracja aparatu fotograficznego (matrycy) w jednostkach względnych natężenia napromienienia na fotografowanej płaszczyźnie (odbiciu wiązki światła na powierzchni płytki światłodzielącej);
2) Wyliczenie średniego natężenia napromienienia na powierzchniach odpowiadających powierzchniom stosowanych w pomiarach fotodetektorów (współczynnik korekcji dopasowujący średnią wartość sygnału do zmieniającej się powierzchni detektora);
3) Synchronizacja pomiaru rozkładu powierzchniowego z pomiarem przy pomocy aktualnie wstawionego w wiązkę fotodetektora;
4) Wartość średnia a wartość chwilowa dla źródeł zasilanych prądem przemiennym.
Podobszar: Doskonalenie metod pomiarowych w dziedzinie fotometrii i radiometrii
Temat główny: Nowe metody wzorcowania mierników stosowanych w badaniach nieniszczących
Osoba do kontaktu ze strony GUM:
Łukasz Litwiniuk
Laboratorium Fotometrii i Radiometrii
lukasz.litwiniuk@gum.gov.pl