Tag nanometrologia
-
Udział w konferencji CNM2017 „5th conference on nano and micromechanics”
W dniach 4-6 lipca 2017 r. pracownicy Głównego Urzędu Miar wzięli udział w międzynarodowej konferencji CNM2017 „5th conference on nano and micromechanics” organizowanej przez prof. dr hab. inż. Teodora Gotszalka z Politechniki Wrocławskiej.
-
Wzorce i procedury kalibracyjne dla mikroskopów z sondą skanującą: droga do nanoświata
Projekt „Wytworzenie oraz charakterystyka nanostruktur do kalibracji mikroskopów ze skanującą sondą” to innowacyjna inicjatywa, która ma na celu opracowanie precyzyjnych procedur kalibracji mikroskopów sił atomowych (AFM) oraz skaningowych mikroskopów tunelowych (STM).