Nawigacja

Pracownie

Pracownia Wzorców Spektrofotometrycznych

Autor : Jolanta Gębicka
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz

Usługi Pracowni

  • Wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca pierwotnego
  • Wzorcowanie wzorców (achromatycznych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca wtórnego
  • Wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca pierwotnego
  • Wzorcowanie wzorców (achromatycznych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca wtórnego
  • Wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca pierwotnego
  • Wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca wtórnego
  • Wyznaczenie wartości składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x, y) na podstawie wyników pomiarów widmowego współczynnika przepuszczania wzorców barwnych
  • Wzorcowanie spektrofotometrów (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D)
  • Wzorcowanie spektrofotometrów (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ)
  • Wzorcowanie spektrofotometrów (dla długości fali)

Stanowiska pomiarowe

Kontakt do Pracowni

do góry