Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz

Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).

Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).

Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.

Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.

Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf

Legenda:

M – materiał odniesienia
E – ekspertyza
W – wzorcowanie
MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
WE – wzorcowanie, ekspertyza

Dziedzina

Przyrząd pomiarowy

Przyrząd pomiarowy (nazwa pełna)

Rodzaj usługi

Wzorcowanie - wielkość mierzona

Sortuj

Uporządkuj

Szukaj w archiwum

Liczba rekordów w bazie

1323

Wybrane filtry

Dziedzina Sortuj pole Dziedzina rosnąco Sortuj pole Dziedzina malejąco	Przyrząd pomiarowy Sortuj pole Przyrząd pomiarowy rosnąco Sortuj pole Przyrząd pomiarowy malejąco	Wzorcowanie - wielkość mierzona Sortuj pole wielkość mierzona rosnąco Sortuj pole wielkość mierzona malejąco	Zakres pomiarowy/metoda	Cena (netto) Sortuj pole cena rosnąco Sortuj pole cena malejąco
Długość	Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą mikrointerferometru Dodaj do schowka	głębokość lub szerokość (nierówności) W	wysokość nierówności h do 1 µm, szerokość nierówności S od 5 µm do 20 µm - - -	390 PLN
Długość	Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch powierzchni) W	od 0,5 do 1,5 µm - - -	325 PLN
Długość	Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru Dodaj do schowka	parametr długości fali W	RSm do 80 µm - - -	260 PLN
Długość	Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometru Dodaj do schowka	parametry amplitudy W	Ra do 0,1 µm - - -	455 PLN
Długość	Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	parametry amplitudy W	Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287) Cena za 2 parametry Ra, Rz lub Ry; za każdy kolejny parametr 0,5 x stawka za 1 rbg - -	650 PLN
Długość	Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	parametr długości fali W	RSm do 500 µm - - -	260 PLN
Długość	Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą mikrointerferometru Dodaj do schowka	wysokość schodka lub głębokość nierówności W	od 0,03 do 1 µm - - -	650 PLN
Długość	Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	wysokość schodka lub głębokość nierówności W	od 0,1 do 100 µm - - -	650 PLN
Długość	Wzorzec kreskowy dokładny - z interferometrem laserowym Dodaj do schowka	odległość kresek W	(1 ÷ 500) mm Cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg - -	650 PLN
Długość	Wzorzec kreskowy mikroskopowy - z interferometrem laserowym Dodaj do schowka	odległość kresek W	(0,01 ÷ 10) mm Cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg - -	390 PLN
Długość	Wzorzec nastawczy do mikrometrów - interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm) Dodaj do schowka	długość środkowa W	(125 ÷ 3000) mm - - -	455 PLN
Długość	Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna) Dodaj do schowka	skręcalność optyczna W	(-10 ÷ 40)° - - -	195 PLN
Długość	Wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia) Dodaj do schowka	skręcalność optyczna M	78,34° ÷ 78,36° 1 opakowanie, 100 g - -	260 PLN
Długość	Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	okrągłość W	do 300 µm - - -	585 PLN
Długość	Wzorzec prostoliniowości walcowy Dodaj do schowka	prostoliniowość W	(0 x 500) µm Cena za kątownik o wysokości do 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 × stawka za 1 rbg. - -	299 PLN
Elektryczność i magnetyzm	Wzorzec Q Dodaj do schowka	współczynnik dobroci WE	1 ÷ 200 - - -	312 PLN
Długość	Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia) Dodaj do schowka	współczynnik załamania światła M	n = (1,3 ÷ 1,7) 1 opakowanie, 10 ml, przy jednej temp. innej niż: 20 °C, 25 °C, 30 °C - -	390 PLN
Długość	Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia) Dodaj do schowka	współczynnik załamania światła M	n = (1,3 ÷ 1,7) 1 opakowanie, 10 ml, w temp. 20 °C, 25 °C, 30 °C - -	260 PLN
Długość	Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (wzorcowanie) Dodaj do schowka	współczynnik załamania światła W	n = (1,3 ÷ 1,7) Podana cena obejmuje wykonanie wzorcowania w jednej długości fali i w trzech temperaturach. Za każdą dodatkową długość fali (też trzy temperatury) należy doliczyć 2 rbg pomnożone przez stawkę godzinową. - -	455 PLN
Długość	Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą goniometru (wzorcowanie) Dodaj do schowka	współczynnik załamania światła W	n = (1,2 ÷ 2,2) - - -	390 PLN
Długość	Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą refraktometru (wzorcowanie) Dodaj do schowka	współczynnik załamania światła W	n = (1,4 ÷ 1,7) - - -	390 PLN
Długość	Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	odległość powierzchni W	(401 ÷ 500) mm - - -	1105 PLN
Długość	Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	odległość powierzchni W	(0 ÷ 300) mm Cena za wzorzec schodkowy do 300 mm - -	650 PLN
Długość	Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	odległość powierzchni W	(501 ÷ 600) mm - - -	1332.50 PLN
Długość	Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	odległość powierzchni W	(301 ÷ 400) mm - - -	877.50 PLN
Długość	Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	odległość powierzchni W	(601 ÷ 700) mm - - -	1560 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	kąt stożka W	(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (101 ÷ 150) mm -	390 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	średnica W	średnica do 500 mm Cena za wzorzec stożka o wysokości do 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 × stawka za 1 rbg wysokość stożka do 250 mm -	169 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	kąt stożka W	(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (51 ÷ 100) mm -	312 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	kąt stożka W	(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (151 ÷ 200) mm -	468 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	kąt stożka W	(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (201 ÷ 250) mm -	546 PLN
Długość	Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMP Dodaj do schowka	kąt stożka W	(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (0 ÷ 50) mm -	234 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella Dodaj do schowka	twardość Brinella W	(32 ÷ 218)HB5/250; (96 ÷ 650)HB5/750; (16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000 - - -	156 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella Dodaj do schowka	twardość Brinella W	(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5; - - -	208 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem Knoopa Dodaj do schowka	twardość Knoopa W	(80 ÷ 1500) HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1 - - -	214.50 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzędu Dodaj do schowka	twardość Rockwella W	(20 ÷ 88) HRA, (20 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC - - -	117 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzędu Dodaj do schowka	twardość Rockwella W	(20 ÷ 88) HRA; (20 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC - - -	130 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa Dodaj do schowka	twardość Vickersa W	(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 - - -	169 PLN
Masa i wielkości pochodne	Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa Dodaj do schowka	twardość Vickersa W	(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; - - -	208 PLN
Długość	Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą profilometru Dodaj do schowka	parametr chropowatości Pt W	(0 ÷ 400) µm - - -	260 PLN
Długość	Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłości Dodaj do schowka	okrągłość W	(0 ÷ 200) µm - - -	455 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)	Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Dodaj do schowka	połysk wysoki dowolnego materiału W	(90 ÷ 100) GU - - -	390 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)	Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Dodaj do schowka	połysk wysoki dowolnego materiału W	(90 ÷ 100) GU - - -	195 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)	Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85 Dodaj do schowka	połysk wysoki dowolnego materiału W	(90 ÷ 100) GU - - -	585 PLN
Akustyka i drgania	Zasilacze i wzmacniacze sygnałów Dodaj do schowka	Wzmocnienie i faza w funkcji częstotliwości W	0,1 Hz ÷ 20 kHz do 50 pkt. pom. Koszt dotyczy 1 wejścia, 1 wyjścia i 1 wzmocnienia. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - -	390 PLN
Czas i częstotliwość	Zegary kwarcowe cyfrowe i analogowe Dodaj do schowka	przedział czasu WE	(-20 ÷ +20) s/d Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. wartość niepewności jest aktualizowana wg świadectwa wzorcowania chronokomparatora -	455 PLN
Czas i częstotliwość	Zegary kwarcowe i mechaniczne Dodaj do schowka	przedział czasu WE	(-120 ÷ +120) s Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. zakres pomiarowy może być większy -	455 PLN
Czas i częstotliwość	Zegary kwarcowe z wyprowadzonym sygnałem podstawy czasu Dodaj do schowka	przedział czasu WE	(-1 ÷ +1) s Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. niepewność zależy od użytego czasomierza cyfrowego (może być lepsza niż podana) -	624 PLN
Akustyka i drgania	Zestaw pomiarowy przetwornika drgań ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienie Dodaj do schowka	czułość w funkcji częstotliwości W	5 Hz ÷ 5 kHz od 5 do 8 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-21 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1-osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - -	455 PLN
Akustyka i drgania	Zestaw pomiarowy przetwornika drgań ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienie Dodaj do schowka	czułość w funkcji częstotliwości W	0,25 Hz ÷ 10 kHz od 20 do 24 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-11 - - -	1690 PLN