Nawigacja

Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz

Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).

Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).

Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.

Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.

Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf

Legenda:

  • M – materiał odniesienia
  • E – ekspertyza
  • W – wzorcowanie
  • MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
  • WE – wzorcowanie, ekspertyza

Liczba rekordów w bazie

1323

Wybrane filtry

Dziedzina Przyrząd pomiarowy Wzorcowanie - wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Cena (netto)
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzędu

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(20 ÷ 88) HRA; (20 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC
-
-
-
130 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5;
-
-
-
208 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
(32 ÷ 218)HB5/250; (96 ÷ 650)HB5/750; (16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000
-
-
-
156 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzędu

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(20 ÷ 88) HRA, (20 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC
-
-
-
117 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5;
-
-
-
208 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100
-
-
-
169 PLN
Masa i wielkości pochodne

Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem Knoopa

Dodaj do schowka
twardość Knoopa
W
(80 ÷ 1500) HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1
-
-
-
214.50 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Brinella

Dodaj do schowka
siła
W
(9,807 ÷ 29420) N
Dotyczy jednego obciążenia
-
-
65 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Brinella

Dodaj do schowka
długość
W
(0 ÷ 1,0) mm; (1 ÷ 7) mm
Dotyczy jednego powiększenia
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
<200 HB dla skal: HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB5/250; HB10/1000; (100 ÷ 400) HB dla skal: HB2,5/187,5; HB5/750; HB10/3000
Dla jednej skali
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Rockwella

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(70 ÷ 88) HRA, (80 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC
Dla jednej skali
-
-
195 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Rockwella

Dodaj do schowka
siła
W
29,42 N ÷ 1471 N
Dotyczy jednego obciążenia
-
-
65 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Rockwella

Dodaj do schowka
długość
W
(0 ÷ 0,2) mm
-
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Vickersa

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(180 ÷ 900) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100
Dla jednej skali
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Vickersa

Dodaj do schowka
siła
W
(0,098 ÷ 980,07) N
Dotyczy jednego obciążenia
-
-
65 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Vickersa

Dodaj do schowka
długość
W
(0 ÷ 1) mm
Dotyczy jednego powiększenia
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Knoopa

Dodaj do schowka
siła
W
(0,098 ÷ 19,614) N
Dotyczy jednego obciążenia
-
-
65 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Knoopa

Dodaj do schowka
długość
W
(0 ÷ 0,2) mm
Dotyczy jednego powiększenia
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz Knoopa

Dodaj do schowka
twardość Knoopa
W
(500 ÷ 900) HK0,1
Dla jednej skali
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz dynamiczny i inny

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(100 ÷ 900) HRV dla skal: HV30; HV10, HV5
-
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz dynamiczny i inny

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
(100 ÷ 400) HB dla skal: HB2,5/187,5; HB10/3000
-
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Twardościomierz dynamiczny i inny

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC
Dla jednej skali
-
-
195 PLN
Masa i wielkości pochodne

Próbka - za pomocą twardościomierza Brinella

Dodaj do schowka
twardość Brinella
W
HB1/10; HB1/30; HB2,5/31,25; HB2,5/62,5; HB2,5/187,5; HB5/250; HB5/750; HB10/500; HB10/100; HB10/3000
-
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Próbka - za pomocą twardościomierza Rockwella

Dodaj do schowka
twardość Rockwella
W
(70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC
-
-
poza GUM - w przypadku, gdy próbka stanowi część integralną maszyny
130 PLN
Masa i wielkości pochodne

Próbka - za pomocą twardościomierza Vickersa

Dodaj do schowka
twardość Vickersa
W
(60 ÷ 1200) HV dla skal: HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100
-
-
-
260 PLN
Masa i wielkości pochodne

Próbka - za pomocą twardościomierza Knoopa

Dodaj do schowka
twardość Knoopa
W
HK0,1; HK1
-
-
-
260 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2340 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
975 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1755 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1560 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1365 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
780 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2145 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1170 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali)
W
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1950 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
962 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
650 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
377 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1391 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
1586 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1053 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
338 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
715 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1729 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
1274 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
260 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
325 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
195 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
130 PLN
Promieniowanie jonizujące

Dawkomierz terapeutyczny

Dodaj do schowka
moc dawki pochłoniętej w wodzie
W
metoda podstawienia
Cena wzorc. dla jednej komory, w przypadku większej liczby komór cena ulegnie modyfikacji.
komora typu A nuklid Co-60
GUM
1235 PLN
do góry