Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
---|---|---|---|---|
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
214.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
143 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy jednej długości fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
71.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2340 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2340 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
715 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
643.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
468 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
409.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy siedmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
500.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
351 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
429 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
357.50 PLN |