Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
---|---|---|---|---|
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i pięciu iluminantów) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
1040 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i czterech iluminantów) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
949 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i trzech iluminantów) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
858 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i dwóch iluminantów) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
767 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczaniaDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i jednego iluminantu) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm - - - |
676 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
325 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
325 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
260 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
260 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
130 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
130 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
1586 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1729 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
923 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
1274 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1391 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
747.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
962 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1053 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
572 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
650 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
715 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
396.50 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
338 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
377 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
221 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2340 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2340 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1755 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1560 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1365 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1170 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
975 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
780 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
2145 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
1950 PLN |
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
1950 PLN |