Nawigacja

Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz

Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).

Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).

Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.

Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.

Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf

Legenda:

  • M – materiał odniesienia
  • E – ekspertyza
  • W – wzorcowanie
  • MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
  • WE – wzorcowanie, ekspertyza

Liczba rekordów w bazie

1323

Wybrane filtry

Dziedzina Przyrząd pomiarowy Wzorcowanie - wielkość mierzona Zakres pomiarowy/metoda Cena (netto)
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i pięciu iluminantów)
W
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm
-
-
-
1040 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i czterech iluminantów)
W
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm
-
-
-
949 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i trzech iluminantów)
W
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm
-
-
-
858 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i dwóch iluminantów)
W
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm
-
-
-
767 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce achromatyczne i barwne widmowego współczynnika przepuszczania

Dodaj do schowka
widmowy współczynnik przepuszczania w celu wyznaczenia składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x,y) (dla jednego wzorca i jednego iluminantu)
W
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (380 ÷ 780) nm
-
-
-
676 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
325 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
325 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
260 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
260 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
195 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
195 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
130 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm
Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D.
-
-
130 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
1586 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1729 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
923 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
1274 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1391 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
747.50 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
962 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
1053 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
572 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
650 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
715 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
396.50 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
338 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej)
W
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm
-
-
-
377 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnego

Dodaj do schowka
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej)
W
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm
-
-
-
221 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2340 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2340 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2145 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
2145 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1950 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy ośmiu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1950 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1755 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy siedmiu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1755 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1560 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy sześciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1560 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1365 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy pięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1365 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1170 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy czterech długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
1170 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
975 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy trzech długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
975 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
780 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane poza siedzibą GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej.
-
W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz.
780 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
-
-
-
2145 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziesięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
-
-
-
2145 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
-
-
-
1950 PLN
Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne)

Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUM

Dodaj do schowka
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dziewięciu długościach fali)
W
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm
-
-
-
1950 PLN
do góry