Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla ośmiu punktów pomiarowych - - |
845 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla siedmiu punktów pomiarowych - - |
754 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla sześciu punktów pomiarowych - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla siedmiu punktów pomiarowych - - |
754 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla czterech punktów pomiarowych - - |
481 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla ośmiu punktów pomiarowych - - |
845 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5- lampowy); wzorcowanie przy napięciu W |
(5 ÷ 3000) lm 4,5 rbg - pierwsza lampa; 1 rbg - każda następna lampa - - |
1105 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4 - lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowej W |
(5 ÷ 3000) lm 5,5 rbg - pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2 rbg - każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1495 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 4- lampowy); wzorcowanie przy napięciu W |
(5 ÷ 3000) lm 4,5 rbg - pierwsza lampa; 1 rbg - każda następna lampa - - |
975 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 4- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 8,5 rbg - pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg - każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
2080 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 3- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 6,5 rbg - pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg - każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1495 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 5 - lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowe W |
(5 ÷ 3000) lm 5,5 rbg - pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1755 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 5- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 6,5 rbg - pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg - każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
2145 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 5- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 8,5 rbg - pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg - każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
2405 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec II rzędu (wzorzec 4- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 6,5 rbg - pierwsza lampa II rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg - każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1820 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
temperatura barwowa najbliższa lampy wolframowej W |
(1900 ÷ 3000) K - - - |
182 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3- lampowy); wzorcowanie przy wyznaczonej temperaturze barwowej W |
(5 ÷ 3000) lm 5,5 rbg-pierwsza lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2 rbg każda nastepna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1235 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
strumień świetlny lampy wolframowej (wzorzec 3- lampowy); wzorcowanie przy napięciu W |
(5 ÷ 3000) lm 4,5 rbg-pierwsza lampa; 1 rbg- każda następna lampa - - |
845 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
stabilnośc lampy wolframowej względem światłości W |
- Stabilizowanie jednej lampy - - |
390 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
stabilnośc lampy wolframowej względem strumienia świetlnego W |
- Stabilizowanie jednej lampy - - |
390 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
światłość lampy wolframowej; wzorzec I rzędu (wzorzec 3- lampowy) W |
(5 ÷ 3100) cd 8,5 rbg-pierwsza lampa I rzędu (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej); 2,5 rbg- każda następna lampa (w tym 1 rbg na wyznaczenie temperatury barwowej) - - |
1755 PLN |
| Promieniowanie jonizujące | Dawkomierz terapeutycznyDodaj do schowka |
moc dawki pochłoniętej w wodzie W |
metoda podstawienia Cena wzorc. dla jednej komory, w przypadku większej liczby komór cena ulegnie modyfikacji. komora typu A nuklid Co-60 GUM |
1235 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla dwóch punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
130 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla czterech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
260 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
325 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
1586 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
1274 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
962 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
650 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1053 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
338 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
377 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy czterech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1391 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy pięciu połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
1729 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy dwóch połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm; (900 ÷ 3000) nm - - - |
715 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy pięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1365 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
780 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziewięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2145 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy ośmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1950 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy siedmiu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1755 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy trzech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
975 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dziesięciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
2340 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy sześciu długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1560 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy czterech długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm W przypadku wzorcowania poza siedzibą GUM do ceny całkowitej za wzorcowanie należy doliczyć rzeczywiste koszty zakwaterowania, podróży i diety delegacyjnej. - W przypadku przyrządów o bardzo dużych gabarytach lub gdy przyrząd wykorzystywany jest w pracy ciągłej laboratorium pomiarowego, lub zgłoszenia wielu przyrządów naraz. |
1170 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Próbka - za pomocą twardościomierza KnoopaDodaj do schowka |
twardość Knoopa W |
HK0,1; HK1 - - - |
260 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Próbka - za pomocą twardościomierza VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(60 ÷ 1200) HV dla skal: HV0,2; HV0,3; HV0,5; HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 - - - |
260 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Próbka - za pomocą twardościomierza RockwellaDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC - - poza GUM - w przypadku, gdy próbka stanowi część integralną maszyny |
130 PLN |