Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
234 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
234 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
234 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Termometr elektryczny (cyfrowy)Dodaj do schowka |
temperatura W |
1 punkt w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza - W zakresie temperatur ujemnych wpis CMC, opublikowany w bazie BIPM KCDB, posiada INTiBS (DI - Polska). - |
234 PLN |
| Długość | Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(101 ÷ 200) mm - - - |
234 PLN |
| Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - max. wymiar ramienia kątownika 100 mm - |
234 PLN |
| Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
(0 ÷ 500) µm W przypadku pomiaru prostopadłości opłata za płaskość nie jest pobierana. wysokość kątownika do 700 mm - |
234 PLN |
| Długość | Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(101 ÷ 200) mm - - - |
234 PLN |
| Długość | Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(101 ÷ 200) mm - wysokość walca do 700 mm - |
234 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (0 ÷ 50) mm - |
234 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Licznik energiiDodaj do schowka |
energia w układzie jednofazowym WE |
dla CMC U = (60 ÷ 400) V; I = (0,2 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5; poza CMC U = (1 ÷ 1056) V; I = (0,001 ÷ 200) A; f = (40 ÷ 1000) Hz; przesunięcie fazowe -180 do 180 stopni Cena za pierwszy punkt pomiarowy, każdy następny to 0,2 rbg x stawka za 1 rbg. - - |
228 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik mocy, kalibrator mocy/energiiDodaj do schowka |
moc/energia w układzie jednofazowym WE |
dla CMC U = (60 ÷ 400) V; I = (0,2 ÷ 100) A; f = (45 ÷ 65) Hz; wsp. mocy (czynnej lub biernej) od 1 do 0,5; poza CMC U = (1 ÷ 1056) V; I = (0,001 ÷ 200) A; f = (40 ÷ 1000) Hz; przesunięcie fazowe -180 do 180 stopni Cena za pierwszy punkt pomiarowy, każdy następny to 0,2 rbg x stawka za 1 rbg. - - |
228 PLN |
| Czas i częstotliwość | Chronokomparatory cyfrowe, analogowe i cyfrowo-analogoweDodaj do schowka |
częstotliwość (cyfrowy zakres pracy) W |
(-120 ÷ +120) s/d Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
221 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
221 PLN |
| Chemia | Konduktometryczny materiał odniesienia (wzorcowanie - metoda wtórna)Dodaj do schowka |
przewodność elektryczna właściwa elektrolitów W |
od 0,015 S/m do11,5 S/m - - - |
220 PLN |
| Chemia | Pehametr - 1 zakres pHDodaj do schowka |
pH W |
od 1 do 13 - - - |
218.40 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
214.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
214.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
214.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
214.50 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem KnoopaDodaj do schowka |
twardość Knoopa W |
(80 ÷ 1500) HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1 - - - |
214.50 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo. Rodzaj usługi |
- Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
208 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości BrinellaDodaj do schowka |
twardość Brinella W |
(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5; - - - |
208 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; - - - |
208 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Czujnik termometru rezystancyjnegoDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie topnienia lodu (0,0 °C) - - - |
208 PLN |
| Czas i częstotliwość | Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeńDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo | - Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
208 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Termometr szklany cieczowyDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie topnienia lodu (0,0 °C) - - - |
208 PLN |
| Chemia | Certyfikowany materiał odniesienia - wodny wzorzec etanoluDodaj do schowka |
ułamek masowy M |
(0,0 ÷ 6,0) mg/g 500 ml - - |
206 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Ciało stałe, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
gęstość ciała stałego W |
(0,8 ÷ 22) g/cm3 ważenie hydrostatyczne Wykonanie pomiarów o niepewności mniejszej niż 0,0001 g/cm3 wymaga indywidualnej kalkulacji ceny. Masa do 1000 g - |
202 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorce masy i obciążniki klasy E2 do 5 kg - jedna sztukaDodaj do schowka |
masa W |
od 1 mg do 5 kg Cena za każdą po pierwszej sztukę wzorca. Usługa dostępna po wykupieniu usługi za pierwszą sztukę. - G |
195 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Twardościomierz dynamiczny i innyDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC Dla jednej skali - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
pojemność elektryczna WE |
0,01 pF ÷ 100 µF Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
rezystancja AC WE |
0,1 Ω ÷ 1 MΩ Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
indukcyjność WE |
1 µH ÷ 10 H Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | PrzekładnikiDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na przekładniku. E |
- - - - |
195 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Twardościomierz RockwellaDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(70 ÷ 88) HRA, (80 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC Dla jednej skali - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
okres W |
(80 ps ÷ 10 s) Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
195 PLN |
| Długość | Przyrząd EDM (dalmierz laserowy) - z interferometrem laserowymDodaj do schowka |
błąd pomiaru odległości W |
(0 ÷ 50) m Cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,5 × stawka za 1 rbg - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Mostek pojemnościDodaj do schowka |
pojemność elektryczna WE |
0,01 pF ÷ 100 µF Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Długość | Płaska płytka interferencyjna - za pomocą interferometru laserowegoDodaj do schowka |
płaskość W |
(0 ÷ 5,7) µm Cena za pomiar płytki z jednej strony; za pomiar z obu stron cena netto wynosi 260,00 zł Wzorce o średnicy do 150 mm. Usługa dotyczy również płaskorównoległych płytek interferencyjnych. - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
195 PLN |
| Długość | Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna)Dodaj do schowka |
skręcalność optyczna W |
(-10 ÷ 40)° - - - |
195 PLN |
| Długość | Refraktometr wizualnyDodaj do schowka |
współczynnik załamania światła W |
n = (1,33 ÷ 1,37) Refraktometr wizualny zanurzeniowy - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | inneDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług. W |
- To jest cena za ustawienie stanowiska do usług M4-200÷ M4-205. - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeńDodaj do schowka |
okres W |
(80 ps ÷ 10 s) Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
dobroć WE |
1 ÷ 500 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
częstotliwość (pomiar niestabilności 15-min. i 3 h) W |
częstotliwość ustalona (0,1 Hz ÷ 14 GHz) pomiar niestabilności częstotliwości 15-min. i 3 h - - |
195 PLN |
| Długość | Poziomnica koincydencyjna - za pomocą optycznej głowicy podziałowejDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kąta nachylenia W |
360° - - - |
182 PLN |