Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
351 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
351 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
351 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy sześciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
351 PLN |
| Czas i częstotliwość | Chronokomparatory cyfrowe, analogowe i cyfrowo-analogoweDodaj do schowka |
częstotliwość (analogowy zakres pracy) W |
(-120 ÷ +120) s/d Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu i typowych zakresów. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
351 PLN |
| Chemia | Analizator wydechu, w trzech punktachDodaj do schowka |
stężenie masowe W |
(0,0 ÷ 3,0) mg/l Wzorcowanie w trzech punktch, za każdy dodatkowy punkt 100 zł - - |
345 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy jednej połówkowej szerokości widmowej szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
338 PLN |
| Długość | Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(301 ÷ 400) mm - - - |
338 PLN |
| Długość | Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(301 ÷ 400) mm - - - |
338 PLN |
| Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - max. wymiary kątownika od 100 do 200 mm - |
338 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Napięciowe obciążenie przekładnikówDodaj do schowka |
składowa czynna i bierna obciążenia W |
(1 ÷ 400) VA Cena za pierwszy punkt pomiarowy, za każdy następny 0,25 rbg x stawka za 1 rbg. - - |
331.50 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Prądowe obciążenie przekładnikówDodaj do schowka |
składowa czynna i bierna obciążenia W |
(1 ÷ 400) VA Cena za pierwszy punkt pomiarowy, za każdy następny 0,25 rbg x stawka za 1 rbg. - - |
331.50 PLN |
| Długość | Stół obrotowy, obrotowa kodowana podziałka kątowa - z pryzmą wielościennąDodaj do schowka |
kąt ustawienia W |
co 360° Wzorcowanie w zakresie 1, 5 i 10 obrotów, za każdą kolejną wielokrotność 5 obrotów dolicza się 0,1 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; przy wzorcowaniu poza siedzibą GUM do ceny dolicza się koszt delegacji. - Poza siedzibą GUM wzorcowane są przetworniki wbudowane w stacjonarny układ pomiarowy. |
325 PLN |
| Czas i częstotliwość | Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeńDodaj do schowka |
przedział czasu (w tym: szerokość impulsu) W |
(6,25 ns ÷ 10 000 s) Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
325 PLN |
| Długość | Profilometr stykowyDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kształtu (układu współrzędnych) W |
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) - - poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji |
325 PLN |
| Długość | Profilometr stykowyDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kształtu (prostoliniowości) W |
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) - - poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji. |
325 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
325 PLN |
| Długość | Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
przekątna do 300 mm max (0 x 500) µm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm - |
325 PLN |
| Długość | Profilometr stykowyDodaj do schowka |
błąd przenoszenia W |
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) - - poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji |
325 PLN |
| Chemia | Pehametr - I kanał (zakres pomiaru pH i napięcia)Dodaj do schowka |
pH; napięcie elektryczne W |
pH od -2,0 do 20,0; od -2300 mV do 2300 mV - - - |
325 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistychDodaj do schowka |
wilgotność ciał stałych W |
1 punkt dla próbek o niższej wilgotności, nie wymagającej podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych - - - |
325 PLN |
| Długość | Poziomnica elektroniczna - za pomocą optycznej głowicy podziałowejDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kąta nachylenia W |
± 45° Za każdy dodatkowy punkt pomiarowy dolicza się 0,1 rbg pomnożone przez stawkę godzinową; za każdą dodatkową rozdzielczość dolicza się 1,8 rbg pomnożone przez stawkę godzinową. wzorcowanie poziomnicy w trzech punktach pomiarowych, dla obu kierunków pochylenia; przy jednej rozdzielczości (sześć punktów pomiarowych) - |
325 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla pięciu punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
325 PLN |
| Długość | Profilometr stykowyDodaj do schowka |
błąd wskazywanego wymiaru (składowa pozioma) W |
Pt do 100 µm, Ra do 30 µm (wg PN-ISO 3274:1997) - - poza GUM - w przypadku przyrządów stacjonarnych, do ceny dolicza się koszt delegacji |
325 PLN |
| Długość | Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch powierzchni) W |
od 0,5 do 1,5 µm - - - |
325 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Wzorzec QDodaj do schowka |
współczynnik dobroci WE |
1 ÷ 200 - - - |
312 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (51 ÷ 100) mm - |
312 PLN |
| Chemia | Czujnik konduktometrycznyDodaj do schowka |
stała czujnika W |
od 5 m-1 do 10000 m-1 - - - |
312 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
lepkość kinematyczna M |
(1 ÷ 90000) mm2/s w temperaturze (25 ÷ 80) °C wiskozymetr kapilarny szklany 100 ml - - |
310 PLN |
| Długość | Wzorzec prostoliniowości walcowyDodaj do schowka |
prostoliniowość W |
(0 x 500) µm Cena za kątownik o wysokości do 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 × stawka za 1 rbg. - - |
299 PLN |
| Długość | Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(201 ÷ 300) mm - wysokość walca do 700 mm - |
299 PLN |
| Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostoliniowość W |
(0 ÷ 500) µm W przypadku pomiaru prostopadłości opłata za prostoliniowość nie jest pobierana. wysokość kątownika do 700 mm - |
299 PLN |
| Chemia | Elektroda redoksDodaj do schowka |
napięcie elektryczne W |
od 220 mV do 650 mV - - - |
299 PLN |
| Chemia | Certyfikowany materiał odniesienia - wodny wzorzec etanoluDodaj do schowka |
ułamek masowy M |
(0,0 ÷ 6,0) mg/g 1000 ml - - |
294 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
292.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
292.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
292.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy pięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
292.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
286 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
286 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
286 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy czterech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
286 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Termometr szklany cieczowyDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie potrójnym H2O (0,01 °C) - - - |
286 PLN |
| Długość | Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(201 ÷ 300) mm - - - |
286 PLN |
| Długość | Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(201 ÷ 300) mm - - - |
286 PLN |
| Długość | Przymiar sztywny - z interferometrem laserowymDodaj do schowka |
odległość kresek W |
(0,5 + 5000) mm Cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg - - |
273 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Czujnik termometru rezystancyjnegoDodaj do schowka |
temperatura W |
1 punkt w zakresie (-80 ÷ 550) °C, metoda porównawcza - W zakresie temperatur ujemnych wpis CMC, opublikowany w bazie BIPM KCDB, posiada INTiBS (DI - Polska). - |
273 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Dowolne źródło - Kalibrator fotometrycznyDodaj do schowka |
współrzędne chromatyczności x, y dowolnego źródła W |
(2600 ÷ 3600) K; ok. 100 lx Cena obejmuje pomiar współrzędnych trójchromatycznych (określenie temperatury barwowej) oraz pomiar natężenia oświetlenia w oknie pomiarowym kalibratora. - - |
273 PLN |
| Temperatura i wilgotność | TermistorDodaj do schowka |
temperatura W |
1 punkt w zakresie (-50 ÷ 100) °C, metoda porównawcza - - - |
273 PLN |
| Długość | Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny 1-DDodaj do schowka |
średnica W |
(10 ÷ 200) mm Cena za wzorcowanie w jednym przekroju. Za pomiar w innej orientacji dodatkowo stawka za 1 rbg. - - |
273 PLN |