Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Urządzenia bierneDodaj do schowka |
wektorowy współczynnik odbicia W |
|Sii|: 0 ÷ 1 arg(S): (-180 ÷ 180)º 10 MHz ÷ 50 GHz Podana cena jest ceną średnią i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. - - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Urządzenia bierneDodaj do schowka |
wektorowy współczynnik transmisji W |
|Sii|: 0 ÷ 1 arg(S): (-180 ÷ 180)º 10 MHz ÷ 50 GHz Podana cena jest ceną średnią i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. - - |
585 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Higrometry, termohigrometry lub psychrometry elektroniczneDodaj do schowka |
wilgotność względna W |
Jeden punkt wzorcowania w zakresie (-40 ÷ -20) °C przez porównanie z wzorcowym higrometrem punktu rosy i wzorcowym termometrem - - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 1 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
| Długość | Komplet długich płytek wzorcowych - interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm)Dodaj do schowka |
długość środkowa W |
(125 ÷ 3000) mm Cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Mierniki luminancji: L-100 + PL1.RF-100Dodaj do schowka |
luminancja źródła opartego na lampie wolframowej W |
(1,5 ÷ 400) cd/m² - - - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Urządzenia bierneDodaj do schowka |
skalarny współczynnik odbicia W |
0,002 ÷ 0,5 Podana cena jest ceną średnią i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
Parametry kolorymetryczne x, y, Y oraz L*, a*, b* (dla jednego iluminantu i jednego obserwatora kolorymetrycznego) W |
(380 ÷ 780) nm - - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z dyskretną skalą długości fali (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (pomiar przy dwóch długościach fali) W |
0,1 ÷ 1,000 / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Mierniki luminancji: RF-100 + PL1.RF-100Dodaj do schowka |
luminancja źródła opartego na lampie wolframowej W |
(1,5 ÷ 400) cd/m² - - - |
585 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Kolba metalowa I rzęduDodaj do schowka |
pojemność W |
(1000 ÷ 5000) ml / wagowa - - - |
585 PLN |
| Długość | Komplet długich płytek wzorcowych - porównawczo, dotykowo w pozycji poziomejDodaj do schowka |
długość środkowa W |
(125 ÷ 1000) mm Cena za 1 szt. długiej płytki wzorcowej - - |
585 PLN |
| Długość | Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
przekątna od 701 mm do 800 mm max (0 x 500) µm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Odbiorniki pomiarowe: odpowiedź na impulsy wzorcowe CISPRDodaj do schowka |
odpowiedź na impulsy wzorcowe Quasi peak wg wymagań Publ. CISPR-16 W |
Zakres częstotliwości: od 0,15 MHz do 1 GHz Podana cena jest ceną średnią i dotyczy typowego przyrządu i typowego zakresu wzorcowania. miernik napięcia RF - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziesięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) w geometrii pomiaru 8°:dDodaj do schowka |
widmowy współczynnik odbicia rozproszonego W |
(780 ÷ 1400) nm, co 20 nm - - - |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Kondensator przełączalnyDodaj do schowka |
współczynnik stratności WE |
1E-05 ÷ 1E-03 - - - |
585 PLN |
| Długość | Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
okrągłość W |
do 300 µm - - - |
585 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Kondensator przełączalnyDodaj do schowka |
pojemność elektryczna WE |
1 pF ÷ 100 pF - - - |
585 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorce masy i obciążniki klasy F2 od 100 kg do 1000 kg - jedna sztukaDodaj do schowka |
masa W |
od 100 kg do 1000 kg Cena za pierwszą sztukę wzorca - G |
585 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy ośmiu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
572 PLN |
| Długość | Kątownik 90° walcowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - wysokość kątownika (401 ÷ 500) mm - |
572 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce długości fali wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla jednego wzorca przy trzech połówkowych szerokościach widmowych szczeliny wyjściowej) W |
Zakres widmowy (200 ÷ 900) nm - - - |
572 PLN |
| Długość | Płytka kątowa - za pomocą goniometruDodaj do schowka |
kąt [wewnętrzny, zewnętrzny] W |
180° Komplet 36 sztuk, typu Kusznikowa dla płytek o zwierciadlanych powierzchniach - |
562 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-52Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20ADodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze LS-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-20Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-12Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-51Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze RF-100Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Luksomierze L-50Dodaj do schowka |
natężenie oświetlenia przy lampie wolframowej W |
(10 ÷ 1900) lx Dla pięciu punktów pomiarowych - - |
559 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wilgotnościomierze do ziarna zbóż i nasion oleistychDodaj do schowka |
wilgotność ciał stałych W |
2 punkty dla próbek o niższej wilgotności nie wymagającej podsuszenia / przez porównanie z suszarkowo-wagową metodą odniesienia oznacznia wilgotności zboża i nasion oleistych - - - |
553 PLN |
| Chemia | Pierwotny materiał odniesienia KHP (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
Zawartość MW |
od 4,872 mol/kg do 4,897 mol/kg (od 99,95 % do 100 %) 25 g - - |
551.20 PLN |
| Chemia | Pierwotny materiał odniesienia KCl (wytworzenie + wzorcowanie)Dodaj do schowka |
Zawartość MW |
od 13,407 mol/kg do 13,414 mol/kg (od 99,95 % do 100 %) 25 g - - |
551.20 PLN |
| Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
prostopadłość W |
(0 ÷ 180)° - max. wymiary kątownika od 300 do 400 mm - |
546 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (201 ÷ 250) mm - |
546 PLN |
| Długość | Płyta pomiarowa - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
przekątna od 601 mm do 700 mm max (0 x 500) µm wymiary płyty nie mogą przekraczać (500 x 700) mm - |
533 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Siłomierze, przetworniki siłyDodaj do schowka |
siła - rozciągająca i ściskająca W |
250 N Adiustacja - dodatkowo 2 rbg. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. do 10 punktów pomiarowych - |
533 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dziewięciu długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
526.50 PLN |
| Akustyka i drgania | Zestaw pomiarowy przetwornika drgań ze wzmacniaczem - 1 wzmocnienieDodaj do schowka |
czułość w funkcji częstotliwości W |
5 Hz ÷ 10 kHz od 9 do 12 pkt. pom. zgodnie z normą ISO16063-21 Koszt dotyczy 1 wielkości mierzonej, 1 wzmocnienia i 1 typowego przetwornika 1-osiowego. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
520 PLN |