Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Temperatura i wilgotność | Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długiDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie potrójnym H2O (0,01 °C) - z wygrzewaniem stabilizacyjnym - |
494 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długiDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie krzepnięcia Zn (419,527 °C) - - - |
1209 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długiDodaj do schowka |
temperatura W |
w punktach stałych: Ar, Hg, H2O, Ga - - - |
3874 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Wzorcowy platynowy czujnik termometru rezystancyjnego (SPRT) - długiDodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie krzepnięcia Ag (961,78 °C) - - - |
1534 PLN |
| Długość | Wzorzec chropowatości (np. ISO 5436-1 typ D)Dodaj do schowka |
parametry chropowatości ISO W |
Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287) Cena za 2 parametry Ra, Rz lub Ry; za każdy kolejny parametr 0,5 x stawka za 1 rbg - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą mikrointerferometruDodaj do schowka |
głębokość lub szerokość (nierówności) W |
wysokość nierówności h do 1 µm, szerokość nierówności S od 5 µm do 20 µm - - - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec do sprawdzania stanu ostrza (np. ISO 5436-1 typ B) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
stosunek wartości parametru Ra (dla dwóch powierzchni) W |
od 0,5 do 1,5 µm - - - |
325 PLN |
| Długość | Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometruDodaj do schowka |
parametr długości fali W |
RSm do 80 µm - - - |
260 PLN |
| Długość | Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą mikrointerferometruDodaj do schowka |
parametry amplitudy W |
Ra do 0,1 µm - - - |
455 PLN |
| Długość | Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
parametry amplitudy W |
Ra, Rq od 0,05 do 30 µm; Rp, Rv, Rz, Rt (wg PN-EN ISO 4287) Cena za 2 parametry Ra, Rz lub Ry; za każdy kolejny parametr 0,5 x stawka za 1 rbg - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec geometryczny (odstępów) (np. ISO 5436-1 typ C) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
parametr długości fali W |
RSm do 500 µm - - - |
260 PLN |
| Długość | Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą mikrointerferometruDodaj do schowka |
wysokość schodka lub głębokość nierówności W |
od 0,03 do 1 µm - - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec głębokości (nierówności) lub wysokości schodka (np. ISO 5436-1 typ A) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
wysokość schodka lub głębokość nierówności W |
od 0,1 do 100 µm - - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec kreskowy dokładny - z interferometrem laserowymDodaj do schowka |
odległość kresek W |
(1 ÷ 500) mm Cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec kreskowy mikroskopowy - z interferometrem laserowymDodaj do schowka |
odległość kresek W |
(0,01 ÷ 10) mm Cena za 10 odcinków pomiarowych; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,1 × stawka za 1 rbg - - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec nastawczy do mikrometrów - interferencyjnie, dotykowo w pozycji poziomej (z płytką 10 mm)Dodaj do schowka |
długość środkowa W |
(125 ÷ 3000) mm - - - |
455 PLN |
| Długość | Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna)Dodaj do schowka |
skręcalność optyczna W |
(-10 ÷ 40)° - - - |
195 PLN |
| Długość | Wzorzec polarymetryczny (materiał odniesienia)Dodaj do schowka |
skręcalność optyczna M |
78,34° ÷ 78,36° 1 opakowanie, 100 g - - |
260 PLN |
| Długość | Wzorzec powiększenia (np. wałek ze ścięciem) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
okrągłość W |
do 300 µm - - - |
585 PLN |
| Długość | Wzorzec prostoliniowości walcowyDodaj do schowka |
prostoliniowość W |
(0 x 500) µm Cena za kątownik o wysokości do 200 mm; za każde kolejne 100 mm 0,6 × stawka za 1 rbg. - - |
299 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Wzorzec QDodaj do schowka |
współczynnik dobroci WE |
1 ÷ 200 - - - |
312 PLN |
| Długość | Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia)Dodaj do schowka |
współczynnik załamania światła M |
n = (1,3 ÷ 1,7) 1 opakowanie, 10 ml, przy jednej temp. innej niż: 20 °C, 25 °C, 30 °C - - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (materiał odniesienia)Dodaj do schowka |
współczynnik załamania światła M |
n = (1,3 ÷ 1,7) 1 opakowanie, 10 ml, w temp. 20 °C, 25 °C, 30 °C - - |
260 PLN |
| Długość | Wzorzec refraktometryczny ciekły – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)Dodaj do schowka |
współczynnik załamania światła W |
n = (1,3 ÷ 1,7) Podana cena obejmuje wykonanie wzorcowania w jednej długości fali i w trzech temperaturach. Za każdą dodatkową długość fali (też trzy temperatury) należy doliczyć 2 rbg pomnożone przez stawkę godzinową. - - |
455 PLN |
| Długość | Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą goniometru (wzorcowanie)Dodaj do schowka |
współczynnik załamania światła W |
n = (1,2 ÷ 2,2) - - - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec refraktometryczny stały – za pomocą refraktometru (wzorcowanie)Dodaj do schowka |
współczynnik załamania światła W |
n = (1,4 ÷ 1,7) - - - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(401 ÷ 500) mm - - - |
1105 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(0 ÷ 300) mm Cena za wzorzec schodkowy do 300 mm - - |
650 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(501 ÷ 600) mm - - - |
1332.50 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(301 ÷ 400) mm - - - |
877.50 PLN |
| Długość | Wzorzec schodkowy - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
odległość powierzchni W |
(601 ÷ 700) mm - - - |
1560 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (101 ÷ 150) mm - |
390 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
średnica do 500 mm Cena za wzorzec stożka o wysokości do 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 × stawka za 1 rbg wysokość stożka do 250 mm - |
169 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (51 ÷ 100) mm - |
312 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (151 ÷ 200) mm - |
468 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (201 ÷ 250) mm - |
546 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
kąt stożka W |
(0 ÷ 180)° - wysokość stożka (0 ÷ 50) mm - |
234 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości BrinellaDodaj do schowka |
twardość Brinella W |
(32 ÷ 218)HB5/250; (96 ÷ 650)HB5/750; (16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000 - - - |
156 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości BrinellaDodaj do schowka |
twardość Brinella W |
(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5; - - - |
208 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Knoopa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Vickersa z wgłębnikiem KnoopaDodaj do schowka |
twardość Knoopa W |
(80 ÷ 1500) HK dla skal: HK0,1; HK0,5; HK1 - - - |
214.50 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Rockwella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella II rzęduDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(20 ÷ 88) HRA, (20 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC - - - |
117 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Rockwella I rzędu - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości Rockwella I rzęduDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(20 ÷ 88) HRA; (20 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC - - - |
130 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 - - - |
169 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; - - - |
208 PLN |
| Długość | Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą profilometruDodaj do schowka |
parametr chropowatości Pt W |
(0 ÷ 400) µm - - - |
260 PLN |
| Długość | Wzorzec współrzędnościowy (np. ISO 5436-1 typ E) - za pomocą przyrządu do pomiaru okrągłościDodaj do schowka |
okrągłość W |
(0 ÷ 200) µm - - - |
455 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla dwóch z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
390 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
585 PLN |
| Akustyka i drgania | Zasilacze i wzmacniacze sygnałówDodaj do schowka |
Wzmocnienie i faza w funkcji częstotliwości W |
0,1 Hz ÷ 20 kHz do 50 pkt. pom. Koszt dotyczy 1 wejścia, 1 wyjścia i 1 wzmocnienia. Cena za usługę niestandardową będzie ustalana indywidualnie. - - |
390 PLN |
Wybierz Strony
- wstecz o 5 <<
- poprzednia <
- 1
- ...
- 22
- 23
- 24
- 25
- 26
- 27
- dalej o 5 >>
- następna >