Nawigacja

Stanowiska pomiarowe

Laboratorium Wzorców Fotometrycznych i Radiometrycznych

Autor : Grzegorz Szajna
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz

Państwowy wzorzec jednostki miary światłości kierunkowej

 

Państwowy wzorzec jednostki miary strumienia świetlnego

 

Wzorzec odniesienia jednostki miary czułości widmowej

Na marmurowym blacie: stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary czułości widmowej

Stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary czułości widmowej

 

 

Wzorce odniesienia jednostki miary czułości widmowej (fotodiody germanowe i krzemowe oraz odbiorniki pułapkowe QED)

Wzorce odniesienia jednostki miary czułości widmowej (fotodiody germanowe i krzemowe oraz odbiorniki pułapkowe QED) wywzorcowane w PTB (Niemcy)

 

Wzorzec odniesienia jednostki miary wysokiego połysku

Na mocnej podstawie przyrząd koloru niebieskiego: Wzorce odniesienia jednostki miary czułości widmowej (fotodiody germanowe i krzemowe oraz odbiorniki pułapkowe QED).

Stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary wysokiego połysku

Stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary wysokiego połysku: na drewnianym blacie w pudełeczkach grupa czterech bloków szklanych firmy BYK Gardner

Wzorce wchodzące w skład wzorca odniesienia jednostki miary wysokiego połysku. Wzorzec stanowi grupa czterech bloków szklanych firmy BYK Gardner wywzorcowanych w BAM (Niemcy)

 

Wzorzec odniesienia jednostki miary temperatury barwowej

Stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary temperatury barwowej: na zdjęciu monitor oraz 3 przyrządy elektroniczne z wyświetlaczami.

Stanowisko pomiarowe do odtwarzania wzorca odniesienia jednostki miary temperatury barwowej

ampa wchodząca w skład wzorca odniesienia jednostki miary temperatury barwowej.

Lampa wchodząca w skład wzorca odniesienia jednostki miary temperatury barwowej. Wzorzec stanowi grupa trzech lamp fotometrycznych firmy Toshiba wywzorcowanych w MIKES (Finlandia)

 

Stanowisko do pomiarów zmian parametrów fotometrycznych materiałów fosforescencyjnych