Nawigacja

Pracownie

Pracownia Wzorców Spektrofotometrycznych

Autor : Jolanta Gębicka
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz

Usługi Pracowni

  • Wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca pierwotnego;
  • wzorcowanie wzorców (achromatycznych) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D w odniesieniu do wzorca wtórnego;
  • wzorcowanie wzorców (achromatycznych i barwnych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca pierwotnego;
  • wzorcowanie wzorców (achromatycznych) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ w odniesieniu do wzorca wtórnego;
  • wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca pierwotnego;
  • wzorcowanie wzorców długości fali w odniesieniu do wzorca wtórnego;
  • wyznaczenie wartości składowych trójchromatycznych (X, Y, Z) i współrzędnych chromatyczności (x, y) na podstawie wyników pomiarów widmowego współczynnika przepuszczania wzorców barwnych;
  • wzorcowanie spektrofotometrów (dla gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D);
  • wzorcowanie spektrofotometrów (dla widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ);
  • wzorcowanie spektrofotometrów (dla długości fali).

Stanowiska pomiarowe

Kontakt do Pracowni

do góry