Stanowiska pomiarowe Laboratorium Twardości
Wzorzec odniesienia twardości Rockwella
Stanowisko służy do wzorcowania wzorców twardości Rockwella I rzędu w zakresie skal A, B, C, D, E, F, G, H, K, zgodnie z normą PN-EN ISO 6508-3. Układ pomiarowy stanowi interferometr laserowy na bazie lasera He-Ne. Zainstalowany program komputerowy umożliwia dodatkowo wizualizację przebiegu cyklu pomiarowego.
Wzorzec odniesienia twardości Vickersa
Po lewej: wzorcowanie wzorca twardości Vickersa (element wzorca odniesienia twardości Vickersa), faza obciążania
Po prawej: element wzorca odniesienia twardości Vickersa, fragment układu obciążającego w zakresie skal HV1-HV10
Element wzorca odniesienia twardości Vickersa - układ pomiarowy (mikroskop z kamerą i monitorem z obrazem odcisku Vickersa)
Mikroskop do pomiaru przekątnych odcisków Vickersa
Wzorzec odniesienia twardości Brinella
Układ obciążający stanowiska wzorcowego twardości Brinella, wchodzący w skład wzorca odniesienia twardości Brinella GUM, przeznaczony jest do wykonywania odcisków przy wzorcowaniu wzorców twardości Brinella w zakresie skal HBW5/250, HBW10/500, HBW5/750, HBW10/1000, HBW10/1500, HBW10/3000.
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella (skala HBW10/3000) (wykonywanie odcisku Brinella, faza obciążania)
Mikroskop cyfrowy z możliwością pomiaru automatycznego i manualnego służy do pomiarów średnic odcisków Brinella w zakresie od 1 mm do 6 mm
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella - faza obciążania
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella - pomiar średnicy odcisku
Wzorzec Brinella z naniesionymi odciskami