Stanowiska pomiarowe Laboratorium Twardości
Wzorzec odniesienia twardości Rockwella
Stanowisko służy do wzorcowania wzorców twardości Rockwella I rzędu w zakresie skal A, B, C, D, E, F, G, H, K, zgodnie z normą PN-EN ISO 6508-3. Układ pomiarowy stanowi interferometr laserowy na bazie lasera He-Ne. Zainstalowany program komputerowy umożliwia dodatkowo wizualizację przebiegu cyklu pomiarowego.
Wzorzec odniesienia twardości Vickersa
Wzorcowanie wzorca twardości Vickersa (element wzorca odniesienia twardości Vickersa), faza obciążania oraz element wzorca odniesienia twardości Vickersa, fragment układu obciążającego w zakresie skal HV1-HV10
Element wzorca odniesienia twardości Vickersa - układ pomiarowy (mikroskop z kamerą i monitorem z obrazem odcisku Vickersa)
Mikroskop do pomiaru przekątnych odcisków Vickersa
Wzorzec odniesienia twardości Brinella
Układ obciążający stanowiska wzorcowego twardości Brinella, wchodzący w skład wzorca odniesienia twardości Brinella GUM, przeznaczony jest do wykonywania odcisków przy wzorcowaniu wzorców twardości Brinella w zakresie skal HBW5/250, HBW10/500, HBW5/750, HBW10/1000, HBW10/1500, HBW10/3000.
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella (skala HBW10/3000) (wykonywanie odcisku Brinella, faza obciążania)
Mikroskop cyfrowy z możliwością pomiaru automatycznego i manualnego służy do pomiarów średnic odcisków Brinella w zakresie od 1 mm do 6 mm
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella - faza obciążania
Wzorcowanie wzorca twardości Brinella - pomiar średnicy odcisku
Wzorzec Brinella z naniesionymi odciskami