Nawigacja

Opracowanie wzorców kształtu na poziomie 1 nanometra

Opracowanie wzorców kształtu na poziomie 1 nanometra

Autor : Praca zbiorowa
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz

Proponowany zakres prac

Wynalezienie oraz skonstruowanie nowego typu wzorców odniesienia w nanometrologii wymiarowej

 

Rodzaj: praca mgr, dr

Podobszar: Metrologia geometrii powierzchni dla precyzyjnej produkcji przemysłowej w skali mikro i nano

Temat Główny: Metrologia małych powierzchni

Osoba do kontaktu ze strony GUM:

Dariusz Czułek
Laboratorium Długości
dariusz.czulek@gum.gov.pl

tel.: 22 581 95 43

 

do góry