Opracowanie wzorców kształtu na poziomie 1 nanometra
Autor : Praca zbiorowa
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz
Proponowany zakres prac
Wynalezienie oraz skonstruowanie nowego typu wzorców odniesienia w nanometrologii wymiarowej
Rodzaj: praca mgr, dr
Podobszar: Metrologia geometrii powierzchni dla precyzyjnej produkcji przemysłowej w skali mikro i nano
Temat Główny: Metrologia małych powierzchni
Osoba do kontaktu ze strony GUM:
Dariusz Czułek
Laboratorium Długości
dariusz.czulek@gum.gov.pl
tel.: 22 581 95 43