W dniach od 12 do 16 lutego odbyło się VI Sympozjum nt. Niepewności Pomiaru połączone

z XX Seminarium Sekcji Kształcenia i Rozwoju Kadry Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN.

Sympozjum tradycyjnie organizowane jest przez Zakład Metrologii Instytutu Automatyki Przemysłowej

Politechniki Szczecińskiej i Sekcję Kształcenia i Rozwoju Kadry Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej

PAN pod patronatem Prezesa Głównego Urzędu Miar. Tematyka sympozjum obejmie szerokie spektrum

zagadnień, w tym:

● metody określania niepewności: metoda ścisła, metody zalecane w publikacji Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik, metody przybliżone, symulacja Monte Carlo,

● zagadnienia ogólne związane z filozofią pomiaru i elementami statystyki matematycznej; hipotezy

o rozkładach prawdopodobieństwa zmiennych wejściowych,

● obliczanie niepewności w pomiarach najwyższej dokładności, w złożonych pomiarach wielkości fizycznych stałych w czasie i w systemach pomiarowych, przy wzorcowaniu i adiustacji,

● oprogramowanie do obliczania niepewności,

● przykłady określania niepewności,

● zagadnienia prawne związane z obliczaniem niepewności,

● terminologię i symbolikę w zagadnieniach niepewności.