W dniach 24 – 26 września odbędzie się XXXIX Międzyuczelniana Konferencja Metrologów.

Organizatorem Konferencji jest Katedra Automatyzacji Procesów Włókienniczych Politechniki Łódzkiej.

Tematyka Konferencji obejmuje:

● podstawowe problemy metrologii – wzorce i wzorcowanie, niedokładność pomiaru, pomiary: kwantowe,

dokładne, teoria systemów pomiarowych, filozofia pomiaru;

● metrologię wielkości elektrycznych i nieelektrycznych – pomiary: elektryczne, magnetyczne, temperatury,

optyczne, mechaniczne, chemiczne, włókiennicze, biomedyczne, w mikro- i nanotechnologii;

● przyrządy i systemy pomiarowo-kontrolne – inteligentne czujniki pomiarowe, wirtualne przyrządy pomiarowe,

rozproszone systemy pomiarowo-kontrolne, mikrosystemy pomiarowe, systemy wbudowane,

komunikacja człowiek-komputer w metrologii, tekstroniczne systemy pomiarowo-kontrolne;

● cyfrowe przetwarzanie i analizę sygnałów pomiarowych – filtracja cyfrowa, analiza: częstotliwościowa,

czasowo-częstotliwościowa, falkowa, przetwarzanie obrazów, eksploracja danych (data mining), sieci

neuronowe;

● zastosowania metrologii – diagnostyka: techniczna, medyczna, pomiary środowiskowe, biometria, pomiary

przemysłowe, telekomunikacja, bezpieczeństwo;

● dydaktykę metrologii – technologię informacyjną w edukacji, wirtualne laboratorium, zdalny dostęp do

laboratorium, e-learning, metodykę nauczania, nowe podręczniki i programy.