Usługi metrologiczne - wzorcowanie przyrządów pomiarowych, wytwarzanie certyfikowanych materiałów odniesienia oraz wykonywanie ekspertyz
Usługi metrologiczne, wykonywane w GUM, mają odniesienie do państwowych wzorców pomiarowych lub wzorców odniesienia GUM, powiązanych z Międzynarodowym Układem Jednostek Miar (SI). Potwierdzenie parametrów metrologicznych wzorców pierwotnych realizowane jest poprzez porównania międzynarodowe, a wzorców wtórnych poprzez odniesienie do wzorców Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) lub innych krajowych instytucji metrologicznych (NMI).
Zdolności w zakresie wzorcowania i pomiaru (CMC) dostępne dla klientów są publikowane w bazie danych porównań kluczowych (KCDB) Międzynarodowego Biura Miar (BIPM) w ramach międzynarodowego, wielostronnego porozumienia o wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców pomiarowych oraz świadectw wzorcowania i pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne (CIPM MRA).
Porozumienie to bazuje na współpracy badawczej NMI, obligatoryjnym udziale w kluczowych i uzupełniających porównaniach międzynarodowych, transparentności ich wyników i zdolności w zakresie wzorcowania, pomiaru, produkcji certyfikowanych materiałów odniesienia oraz na systemach zarządzania NMI, zgodnych z normą PN-EN ISO/IEC 17025 oraz PN-EN/ ISO 17034, cyklicznie ocenianych przez ekspertów EURAMET.
Usługi metrologiczne nieobjęte porozumieniem CIPM MRA są realizowane przy zachowaniu takich samych wymagań i zgodnie z tą samą, wypracowaną w GUM, dobrą praktyką laboratoryjną, zgodną ze standardami międzynarodowymi.
Pełna oferta usług dostępna w pliku pdf
Legenda:
- M – materiał odniesienia
- E – ekspertyza
- W – wzorcowanie
- MW – materiał odniesienia, wzorcowanie
- WE – wzorcowanie, ekspertyza
Wybrane filtry
| Dziedzina | Przyrząd pomiarowy | Wzorcowanie - wielkość mierzona | Zakres pomiarowy/metoda | Cena (netto) |
|---|---|---|---|---|
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
143 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
143 PLN |
| Długość | Wgłębnik KnoopaDodaj do schowka |
wymiar - kąty W |
(130 ÷ 180)° - - - |
143 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
143 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca pierwotnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy dwóch długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakresy widmowe (210 ÷ 900) nm; (900 ÷ 2500) nm - - - |
143 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Ciecz, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
gęstość cieczy W |
(0,6 ÷ 2,0) g/cm3 gęstościomierz oscylacyjny albo ważenie hydrostatyczne - - - |
150 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec gęstości, w zakresie temperatury (15÷60) °C albo (15÷70) °C albo (15÷80) °CDodaj do schowka |
gęstość cieczy M |
(0,6 ÷ 1,7) g/cm3 - - - |
150 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Areometr szklanyDodaj do schowka |
gęstość cieczy W |
(0,5 ÷ 2,5) g/cm3 - - - |
154 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości BrinellaDodaj do schowka |
twardość Brinella W |
(32 ÷ 218)HB5/250; (96 ÷ 650)HB5/750; (16 ÷ 109)HB10/500; (32 ÷ 218)HB10/1000; (96 ÷ 650)HB10/3000 - - - |
156 PLN |
| Długość | Pryzma wielościenna - za pomocą autokolimatora i precyzyjnego stołuDodaj do schowka |
błąd piramidalności W |
dla pryzm o max liczbie ścian 72 - - - |
156 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Certyfikowany materiał odniesienia – ciekły wzorzec lepkości – ciecz newtonowska, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
lepkość kinematyczna M |
(1900 ÷ 65000) mm2/s w temperaturze 20 °C wiskozymetr kapilarny szklany 100 ml - - |
160 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV1; HV2; HV3; HV5; HV10; HV30; HV50; HV100 - - - |
169 PLN |
| Długość | Walec zewnętrzny (tłoczek, trzpień, wałeczek, drut) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(3 ÷ 100) mm - wysokość walca do 700 mm - |
169 PLN |
| Temperatura i wilgotność | Termometr elektryczny (cyfrowy)Dodaj do schowka |
temperatura W |
w punkcie topnienia lodu (0,0 °C) - - - |
169 PLN |
| Długość | Wzorzec stożka - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
średnica do 500 mm Cena za wzorzec stożka o wysokości do 50 mm; za każde kolejne 50 mm 0,6 × stawka za 1 rbg wysokość stożka do 250 mm - |
169 PLN |
| Długość | Kątownik 90° (stalowy, granitowy, z ramieniem) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
płaskość W |
(0 ÷ 500) µm W przypadku pomiaru prostopadłości opłata za płaskość nie jest pobierana. max. wymiary kątownika (700 x 500) mm - |
169 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
175.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów neutralnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
175.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego τ wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
widmowy współczynnik przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0,001 ÷ 1,000 Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
175.50 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorce (achromatyczne i barwne) gęstości optycznej widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego D wzorcowane w odniesieniu do wzorca wtórnegoDodaj do schowka |
gęstość optyczna widmowego współczynnika przepuszczania kierunkowego materiałów selektywnych widmowo (dla jednego wzorca przy trzech długościach fali) W |
0 ÷ 3 Abs / Zakres widmowy (210 ÷ 900) nm - - - |
175.50 PLN |
| Długość | Poziomnica koincydencyjna - za pomocą optycznej głowicy podziałowejDodaj do schowka |
błąd wskazywanego kąta nachylenia W |
360° - - - |
182 PLN |
| Długość | Walec wewnętrzny (pierścień) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(3 ÷ 100) mm - - - |
182 PLN |
| Długość | Sfera (kula) - za pomocą maszyny WMPDodaj do schowka |
średnica W |
(3 ÷ 100) mm - - - |
182 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Lampa wolframowaDodaj do schowka |
temperatura barwowa najbliższa lampy wolframowej W |
(1900 ÷ 3000) K - - - |
182 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Twardościomierz RockwellaDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(70 ÷ 88) HRA, (80 ÷ 100) HRB, (20 ÷ 70) HRC Dla jednej skali - - |
195 PLN |
| Długość | Przyrząd EDM (dalmierz laserowy) - z interferometrem laserowymDodaj do schowka |
błąd pomiaru odległości W |
(0 ÷ 50) m Cena za 1 odcinek pomiarowy; za każdy kolejny odcinek pomiarowy 0,5 × stawka za 1 rbg - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeńDodaj do schowka |
okres W |
(80 ps ÷ 10 s) Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
dobroć WE |
1 ÷ 500 Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
częstotliwość (pomiar niestabilności 15-min. i 3 h) W |
częstotliwość ustalona (0,1 Hz ÷ 14 GHz) pomiar niestabilności częstotliwości 15-min. i 3 h - - |
195 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorce masy i obciążniki klasy E2 do 5 kg - jedna sztukaDodaj do schowka |
masa W |
od 1 mg do 5 kg Cena za każdą po pierwszej sztukę wzorca. Usługa dostępna po wykupieniu usługi za pierwszą sztukę. - G |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | inneDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług. W |
- To jest cena za ustawienie stanowiska do usług M4-200÷ M4-205. - - |
195 PLN |
| Długość | Płaska płytka interferencyjna - za pomocą interferometru laserowegoDodaj do schowka |
płaskość W |
(0 ÷ 5,7) µm Cena za pomiar płytki z jednej strony; za pomiar z obu stron cena netto wynosi 260,00 zł Wzorce o średnicy do 150 mm. Usługa dotyczy również płaskorównoległych płytek interferencyjnych. - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
rezystancja AC WE |
0,1 Ω ÷ 1 MΩ Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Długość | Wzorzec polarymetryczny (kwarcowa płytka kontrolna)Dodaj do schowka |
skręcalność optyczna W |
(-10 ÷ 40)° - - - |
195 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Twardościomierz dynamiczny i innyDodaj do schowka |
twardość Rockwella W |
(70 ÷ 88) HRA; (80 ÷ 100) HRB; (20 ÷ 70) HRC Dla jednej skali - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Mostek pojemnościDodaj do schowka |
pojemność elektryczna WE |
0,01 pF ÷ 100 µF Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Długość | Refraktometr wizualnyDodaj do schowka |
współczynnik załamania światła W |
n = (1,33 ÷ 1,37) Refraktometr wizualny zanurzeniowy - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | PrzekładnikiDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo przy realizacji usług na przekładniku. E |
- - - - |
195 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
okres W |
(80 ps ÷ 10 s) Podana cena jest określona dla typowych zakresów wzorcowania. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Wzorzec wysokiego połysku - wzorcowanie dla jednej z trzech geometrii pomiarowych: 20/20, 60/60, 85/85Dodaj do schowka |
połysk wysoki dowolnego materiału W |
(90 ÷ 100) GU - - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane poza siedzibą GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Do ceny należy dod. rzecz. koszty zakw., podr. i diety del.; usł. realiz. z usługą wykonaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali poza GUM dla widm. współcz. przep. kier. τ lub dla gęst. opt. widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
indukcyjność WE |
1 µH ÷ 10 H Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Fotometria i radiometria (promieniowanie optyczne) | Spektrofotometry z ciągłą skalą długości fali (dla długości fali) wzorcowane w siedzibie GUMDodaj do schowka |
długość fali dla materiału selektywnie przepuszczającego promieniowanie (dla trzech punktów skali długości fali) W |
Zakresy widmowe (200 ÷ 900) nm, (900 ÷ 2100) nm Usługa realiz. z usł. wykonywaną dla spektrofot. z ciągłą skalą dł. fali w GUM dla widm. współcz. przepuszczania kierunkowego τ lub dla gęstości optycznej widm. współcz. przep. kier. D. - - |
195 PLN |
| Elektryczność i magnetyzm | Miernik RLCDodaj do schowka |
pojemność elektryczna WE |
0,01 pF ÷ 100 µF Cena za pierwszy punkt pomiarowy dla danej częstotliwości, każdy następny punkt to 91,00 zł (0,7 rbg x stawka za 1 rbg). - - |
195 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Ciało stałe, w jednej temperaturzeDodaj do schowka |
gęstość ciała stałego W |
(0,8 ÷ 22) g/cm3 ważenie hydrostatyczne Wykonanie pomiarów o niepewności mniejszej niż 0,0001 g/cm3 wymaga indywidualnej kalkulacji ceny. Masa do 1000 g - |
202 PLN |
| Chemia | Certyfikowany materiał odniesienia - wodny wzorzec etanoluDodaj do schowka |
ułamek masowy M |
(0,0 ÷ 6,0) mg/g 500 ml - - |
206 PLN |
| Czas i częstotliwość | Częstościomierze-czasomierze, częstościomierze i czasomierze cyfrowe i analogowe, w tym również stanowiące integralną część innych urządzeńDodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo | - Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
208 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Brinella - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości BrinellaDodaj do schowka |
twardość Brinella W |
(32 ÷ 218)HB1/10; (96 ÷ 650)HB1/30; (16 ÷ 09)HB2,5/31,25; (32 ÷ 218)HB2,5/62,5; (96 ÷ 50)HB2,5/187,5; - - - |
208 PLN |
| Masa i wielkości pochodne | Wzorzec twardości Vickersa - za pomocą stanowiska wzorcowego twardości VickersaDodaj do schowka |
twardość Vickersa W |
(100 ÷ 1000) HV dla skal: HV0,05; HV0,1; HV0,2; HV0,3; HV0,5; - - - |
208 PLN |
| Czas i częstotliwość | Generatory częstotliwości, okresu i przedziałów czasu (w tym również: syntezery i generatory funkcyjne)Dodaj do schowka |
Opłata stała związana ze zleceniem, przygotowaniem przyrządu i stanowiska pomiarowego pobierana jednorazowo. Rodzaj usługi |
- Podana cena jest określona dla średniej liczby roboczogodzin koniecznych do przeprowadzenia wzorcowania typowego przyrządu. W przypadkach wzorcowań nietypowych cenę określa się indywidualnie dla każdego przyrządu - liczba rbg x stawka za 1 rbg. - - |
208 PLN |