Nawigacja

Stanowiska pomiarowe w laboratoriach GUM

Pracownia Wzorców Długości

Autor : Robert Szumski
Opublikowane przez : Sebastian Margalski
  • Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych (układ elektroniczny) Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych (układ elektroniczny)
    Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych (układ elektroniczny)
  • Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezera częstotliwości optycznych Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezera częstotliwości optycznych
    Fragment państwowego wzorca jednostki długości - syntezera częstotliwości optycznych
  • Państwowy wzorzec jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych Państwowy wzorzec jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych
    Państwowy wzorzec jednostki długości - syntezer częstotliwości optycznych
  • Automatyczny interferometr multispektralny do wzorcowania długich płytek wzorcowych Automatyczny interferometr multispektralny do wzorcowania długich płytek wzorcowych
    Automatyczny interferometr multispektralny do wzorcowania długich płytek wzorcowych
  • Fragment automatycznego interferometru multispektralnego do wzorcowania długich płytek wzorcowych Fragment automatycznego interferometru multispektralnego do wzorcowania długich płytek wzorcowych
    Fragment automatycznego interferometru multispektralnego do wzorcowania długich płytek wzorcowych
  • Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny
    Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny
  • Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny
    Stanowisko pomiarowe do wzorcowania długich płytek wzorcowych - komparator interferencyjny
do góry